X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）
在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）A、样品的粒度B、不均匀性C、表面结构D、化学价态
不影响X荧光分析的主要因素有（）。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型（）。A、固体B、气体C、粉末D、液体
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）