不影响X荧光分析的主要因素有()。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应

不影响X荧光分析的主要因素有()。

  • A、粒度效应
  • B、矿物效应
  • C、基体效应
  • D、光电效应

相关考题:

影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。

下列属于光学分析仪有()A、红外分析仪B、X-荧光分析仪C、紫外分析仪D、微量水分析仪

在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、()、()

利用X荧光光谱仪分析试样中的As、Pb时,AsKα线与PbLα线有干扰,则应选择()线进行分析。

原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

X射线荧光仪可进行()分析。

X射线荧光分析法有何特点?

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

波长色散型X射线荧光分析仪常用分光晶体有()、()、Ge、PX、InSb、TIAP、OVO等。

激发光波长对荧光的影响,下列说法正确的是()。A、影响荧光光谱的形状和荧光的强度B、不影响荧光光谱的形状和荧光的强度C、影响荧光光谱的形状,但并不影响荧光的强度D、不影响荧光光谱的形状,但影响荧光的强度

X荧光光谱仪脉冲高度分析器有何作用?

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

简述X射线荧光分析技术中荧光产额的意义。

无损伤鉴定宝石气相包裹体成分的方法有:().A、电子探针成分分析B、X射线荧光分析C、X射线能谱分析D、激光拉曼光谱分析

为了区别天然与充胶处理翡翠,可采用宝石学测试方法有:()A、电子探针     B、X-荧光分析   C、紫外荧光     D、红外光谱

下列属于电化学分析仪有()A、红外分析仪B、X-荧光分析仪C、PH计D、微量水分析仪

判断题在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。A对B错

单选题原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法

问答题X射线光电子能谱分析和X射线荧光光谱分析的基本原里有哪些不同?分别有怎样的适用性?

问答题分析下列荧光辐射产生的可能性,为什么?(1)用CuKαX射线激发CuKα荧光辐射;(2)用CuKβX射线激发CuKα荧光辐射;(3)用CuKαX射线激发CuLα荧光辐射。

判断题原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A对B错

单选题激发光波长对荧光的影响,下列说法正确的是()A影响荧光光谱的形状和荧光的强度B不影响荧光光谱的形状和荧光的强度C影响荧光光谱的形状,但并不影响荧光的强度D不影响荧光光谱的形状,但影响荧光的强度