X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差。

X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差。


相关考题:

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。 A、增大B、减小C、不变

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对,错)。

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应

在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

X射线荧光光谱法基本上是一种()分析法。A、相对B、绝对C、物理D、化学

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与曝光时间无关。

原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。

X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?

X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。

X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度不会影响分析精度。

X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

X射线荧光光谱法分析金属样品,取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与()无关。

用原子吸收光谱法测定样品中的金属离子一般选用待测元素的()作为分析线。A、发射线B、灵敏线C、共振线D、入射线

单选题原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法

判断题原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A对B错