X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。此题为判断题(对，错)。
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
如何在无损的情况下检验锈蚀铁器内是否残留金属核心？（）A、显微镜观察B、磁铁C、X射线荧光分析D、红外光谱分析
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
在X射线荧光光谱分析法中，除存在谱线重迭干扰外还存在（）干扰。
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度直接影响（）
光谱分析样品的制样要求（）。A、样品相对均匀B、无物理缺陷C、表面新鲜，纹理清晰D、不能过热，不能沾污
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
X射线荧光光谱分析中，X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？
问答题简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。