X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

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相关考题:

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对,错)。

X射线荧光定量分析方法有()和()两大类。

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

当对技术要求严格或者对结果有争议时,一般采取以下哪种材质分析方法进行检验()A、化学分析法B、X射线荧光分析法C、发射光谱法D、原子吸收光谱法

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?

X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()A、定性分析B、定量分析C、都不是

X射线荧光光谱法测定铁水成分,只需样品大小合适,对检测表面制样没什么要求。

X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度不会影响分析精度。

X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

X射线光谱法检测记录的是()X射线强度。A、一次B、二次C、三次

X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱

简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?

X射线荧光光谱法分析金属样品,取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。

用内标法进行X射线荧光进行定量分析,选择内标物应遵循()A、内标物与被测物的激发X射线波长相近,基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近,,基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相差大

判断题X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。A对B错

单选题原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法

单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析,选择内标物应遵循()A内标物与被测物的激发X射线波长相近,基体对两者荧光吸收相近B内标物与被测物的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相近C内标物与被测物的激发X射线波长相近,,基体对两者荧光吸收相差大D两者的激发X射线波长相差大,基体对两者荧光吸收相差大

判断题原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A对B错

问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?