在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。


相关考题:

X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量

在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应,只能校正增强效应。

简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?

X射线荧光中所谓的基体,是指整个分析试样的元素,但不包括()。

X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性

X射线荧光光谱分析中,对于不同元素的同名谱线,随着原子序数的增加,波长变短。特征光谱的这些物理现象和特点,主要是由各种元素的化学成分决定的。

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

在X射线荧光光谱分析法中,除存在谱线重迭干扰外还存在()干扰。

X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。

X射线荧光光谱分析中,各元素的同系谱线激发电位和同系特征光谱的波长,随原子序数的大小而变化,与管电压和管电流的大小也有关。

X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。

X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()A、定性分析B、定量分析C、都不是

X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

在X射线光谱分析中,光管产生的X射线波长应()样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于

X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。

影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的()、()两类。

X射线荧光光谱分析是相对分析方法,需要通过测试()来确定待测样品的含量。

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。

判断题在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。A对B错

问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?

多选题手持式X射线荧光光谱分析仪,以下不可检测的元素成分是()AMoBBCSnDN