X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果,应使用有证的标准样品,标准样品与分析试料的()尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔

X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果,应使用有证的标准样品,标准样品与分析试料的()尽可能一致。

  • A、组成
  • B、制样方法
  • C、样品无裂纹
  • D、样品无气孔

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X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。

X射线荧光定量分析方法有()和()两大类。

X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了()。

X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对()的吸收。

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

原子受高能辐射,其外层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。

X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?

X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()A、定性分析B、定量分析C、都不是

X射线荧光光谱法测定铁水成分,只需样品大小合适,对检测表面制样没什么要求。

X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。

X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度不会影响分析精度。

X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。

由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

X射线荧光光谱法分析金属样品,取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。

X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()

X射线荧光定量分析时,采用比较标准法,其适宜的分析对象的特征是什么?其标准样的配制应注意什么?

用X射线荧光法定量分析基体复杂的样品,最好的定量方法是()A、标准曲线法B、比较标准法C、稀释法D、标准加入法

单选题用X射线荧光法定量分析基体复杂的样品,最好的定量方法是()A标准曲线法B比较标准法C稀释法D标准加入法

问答题X射线荧光定量分析时,采用比较标准法,其适宜的分析对象的特征是什么?其标准样的配制应注意什么?

问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应,除了内标法和标准加入法外,还有哪几种方法?

多选题对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时,样品放置应满足()A从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的左边B从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的右边C样品放置,应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器D样品放置位置关系不大,只要能满足聚焦清晰即可