X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A、全谱段波长B、0.001～10nmC、0.01～120nmD、0.1～800nm
X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。A、相对B、绝对C、物理D、化学
当对技术要求严格或者对结果有争议时，一般采取以下哪种材质分析方法进行检验（）A、化学分析法B、X射线荧光分析法C、发射光谱法D、原子吸收光谱法
X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的（）波长所组成，其中各条特征谱线的（）强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A对B错
问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
单选题X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A全谱段波长B0.001～10nmC0.01～120nmD0.1～800nm