X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对，错)。
用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时，激发时间要适当加长。
X射线荧光光谱法中，分析微量Si的样品不能用（）磨料抛光。
影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
X射线荧光光谱法基本上是一种（）分析法。A、相对B、绝对C、物理D、化学
利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。
X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
X射线荧光光谱法是对元素的（）进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
判断题利用手持式X射线荧光光谱分析仪检测时，分析铁基材料中Al时，不能使用含硅的磨料对分析面进行打磨处理。A对B错