X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。A、计算法B、实验C、作图法D、回归方程
X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
采用玻璃熔片法X荧光仪分析熔剂，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）A、四硼酸锂B、碳酸锂C、碘化铵D、四硼酸钠
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
玻璃熔片法X荧光仪分析下列（）样品时，熔样时要加入钴共熔体。A、机烧B、球团C、石灰块D、铁矿石
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
采用玻璃熔片X荧光仪分析球团，应称取（）钴共熔体。A、0.5gB、0.6gC、0.7gD、0.8g
采用玻璃熔片X荧光仪分析中包覆盖剂中TFe含量，在熔制玻璃片应称取（）A、0.10gB、0.21gC、0.35gD、0.70g
采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣，在熔制玻璃熔片时，需要加入（）A、四硼酸锂B、碳酸锂C、碘化铵D、钴共熔体
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
采用玻璃熔片X荧光仪分析中酸性中包低碳覆盖剂中氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）A、0.10gB、0.21gC、0.35gD、0.70g
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，我们采用（）对粉末样进行定型。A、铁环B、PVC环C、钢环D、铝环
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
玻璃熔片X荧光仪分析，在熔制玻璃片时，采用坩埚是（）的。A、铂金B、黄金C、白银D、铁的
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型（）。A、固体B、气体C、粉末D、液体
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。A、100目B、120目C、150目D、180目
采用玻璃熔片X荧光仪分析铁矿时，应准确称取（）混合熔剂。A、5gB、6gC、7gD、8g
采用玻璃熔片X荧光仪分析精炼渣时，应准确称取（）混合熔剂。A、5gB、6gC、7gD、8g
采用玻璃熔片X荧光仪分析中埋弧渣中二氧化硅、氧化铝、氧化钙含量，在熔制玻璃片应称取（）A、0.10gB、0.21gC、0.35gD、0.70g
单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法