X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。
X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。此题为判断题(对，错)。
影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）
在X荧光分析中，以下样品的哪个因素不属于物理效应。（）A、样品的粒度B、不均匀性C、表面结构D、化学价态
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比，更适合不规则样品的镀层检测。
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
X射线荧光光谱法测定铁水成分，只需样品大小合适，对检测表面制样没什么要求。
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
多选题对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时，样品放置应满足（）A从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的左边B从正面看，X射线荧光接收器在所放样品位置的右边C样品放置，应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器D样品放置位置关系不大，只要能满足聚焦清晰即可