X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。
用已知准确含量的标准样品代替试样，按照样品的分析步骤和条件进行分析的试验叫做对照试验。此题为判断题(对，错)。
X荧光定量分析方法从样品制备的角度出发，可分为（）、熔融法、固体试样法、薄试样法。
X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
荧光样品制备注意事项有（）。A、试样代表性B、试样均匀性C、试样洁净度D、标准样品与未知样品的制备方法须一致
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有（）方法。A、压片法B、薄膜法C、熔融制样法D、离心浇铸法
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
用于分析钢中氧的试样应制成（）。A、粉末样B、钻屑样C、块状样
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型（）。A、固体B、气体C、粉末D、液体
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
X射线荧光光谱分析是相对分析方法，需要通过测试（）来确定待测样品的含量。
粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时，将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约（）的粉末试样。A、100目B、120目C、150目D、180目
X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品，样品的（）会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化
X射线荧光光谱法中，处理粉末样品的方法主要有压片法和（）
用已知准确含量的标准样品代替试样，按照样品的分析步骤和条件进行分析的试验叫做对照试验。
判断题用已知准确含量的标准样品代替试样，按照样品的分析步骤和条件进行分析的试验叫做对照试验。A对B错