磁粉探伤可以探测船机零件的______缺陷。 A.表面B.近表面C.内部D.表面和近表面
涡流探伤是一种探测零件或构件______缺陷的无损探伤方法。 A.表面B.近表面C.表面和近表面D.内部
磁粉探伤适用于探测承压设备的（ ）。A．表面及近表面缺陷B．内部缺陷C．贯穿性缺陷D．体积缺陷
近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A、后乳化渗透法B、着色渗透法C、可水洗型荧光渗透法D、以上方法均不能探测近表面的缺陷
双晶直探头的最主要用途是（）。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率，减小晶片尺寸D、以上都是
提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷
磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
双晶片联合探头，由于盲区较小，因此有利于近表面缺陷的探测。
单选题联合双直探头的最主要用途是：（）A探测近表面缺陷B精确测定缺陷长度C精确测定缺陷高度D用于表面缺陷探伤
单选题双晶直探头的最主要用途是（）。A探测近表面缺陷B精确测定缺陷长度C精确测定缺陷高度D用于表面缺陷检测
单选题磁粉探伤可以探测船机零件的（）缺陷。A表面B近表面C内部D表面和近表面
单选题射线探伤是探测零件（）缺陷的无损探伤方法。A表面B近表面C内部D表面和内部
单选题近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）A后乳化型渗透法B着色渗透法C水洗型荧光渗透法D以上方法均不能探测近表面下的缺陷
判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。A对B错
单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形
单选题表面波探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形
单选题近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A后乳化渗透法B着色渗透法C可水洗型荧光渗透法D以上方法均不能探测近表面的缺陷