双晶探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

双晶探头用于探测工件()缺陷。

  • A、近表面
  • B、表面
  • C、内部
  • D、平面形

相关考题:

直探头主要用于探测()的缺陷。

纵波双晶直探头检测工件时,对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。

双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。

在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

双晶直探头的最主要用途是()。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测

以下哪一条,不属于双晶探头的优点()A、探测范围大B、盲区小C、工件中近场长度小D、杂波少

频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

表面波探头用于探测工件表面缺陷。

表面波探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

双晶联合探头,由于盲区较小,因此有利于发现()缺陷的探测。

频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

表面波探头用于探测工件()。

双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。

单选题双晶直探头的最主要用途是()。A探测近表面缺陷B精确测定缺陷长度C精确测定缺陷高度D用于表面缺陷检测

问答题在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。A对B错

填空题表面波探头用于探测工件()。

判断题双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。A对B错

填空题双晶片联合探头,由于盲区小,因此有利()缺陷的探测。

判断题纵波双晶直探头检测工件时,对位于菱形声束会聚区内缺陷的检测灵敏度高。A对B错

单选题以下哪一条,不属于双晶探头的优点()A探测范围大B盲区小C工件中近场长度小D杂波少

判断题双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。A对B错

填空题双晶联合探头,由于盲区较小,因此有利于发现()缺陷的探测。

单选题双晶探头用于探测工件()缺陷。A近表面B表面C内部D平面形

判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A对B错

单选题表面波探头用于探测工件()缺陷。A近表面B表面C内部D平面形