焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷
渗透探伤是一种非破坏性检验方法，这种方法可用于（）A、探测和评定试件中各种缺陷B、探测和确定试样中的缺陷长度、深度和宽度C、确定试样的抗拉强度D、探测工件表面的开口缺陷
近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）A、后乳化型渗透法B、着色渗透法C、水洗型荧光渗透法D、以上方法均不能探测近表面下的缺陷
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
渗透检测是一种非破坏试验方法，这种方法可用于（）。A、探测和评定试件中的各种缺陷B、探测和确定试样中缺陷的长度，深度和宽度C、确定试样的抗拉强度D、探测工件表面的开口缺陷
近探测面的缺陷不是总能检出来，因为（）A、近场效应B、衰减C、检测系统的回复时间D、折射
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率，减小晶片尺寸D、以上都是
用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。A、无缺陷B、有规则的缺陷C、有小缺陷D、以上均不是
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷
磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）
垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的（）A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度D、A和B
垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷（）A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度
磁粉检测只能探测开口于时间表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
判断题磁粉检测只能探测开口于时间表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）A对B错
单选题近探测面的缺陷不是总能检出来，因为（）A近场效应B衰减C检测系统的回复时间D折射
多选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷（）A声程B至探测面的垂直距离C深入探测面的深度
单选题近表面下的缺陷用哪种方探测最好（）A后乳化型渗透法B着色渗透法C水洗型荧光渗透法D以上方法均不能探测近表面下的缺陷
单选题提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A用TR探头B使用窄脉冲宽频带探头C提高探头频率，减小晶片尺寸D以上都是
单选题渗透检测是一种非破坏试验方法，这种方法可用于（）。A探测和评定试件中的各种缺陷B探测和确定试样中缺陷的长度，深度和宽度C确定试样的抗拉强度D探测工件表面的开口缺陷
填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。A对B错
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷
单选题分割式探头主要用来（）。A探测离探伤面远的缺陷B探测离探伤面近的缺陷C探测与探伤面平行的缺陷
问答题用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）
单选题近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A后乳化渗透法B着色渗透法C可水洗型荧光渗透法D以上方法均不能探测近表面的缺陷