检验近表面缺陷时,最好选用联合双晶探头。() 此题为判断题(对，错)。
磁粉探伤可检验（）。A、焊缝表面及近表面缺陷B、焊缝内部缺陷C、缺陷的形状及位置D、所有缺陷
对交流做半波整流是为了更好地检验（）。A、表面缺陷B、内部缺陷C、表面与近面缺陷
渗透检测法适用于检验的缺陷是（）。A、表面开口缺陷B、近表面缺陷C、内部缺陷D、以上都对
渗透检测适合于检验非多孔性材料的（）A、内部缺陷B、近表面缺陷C、表面开口缺陷D、表面缺陷
对交流作半波整流是为了检验（）A、表面缺陷；B、内部缺陷；C、表面和近表面缺陷；D、以上都可以
渗透检验是（）方法。A、一种用来检查非铁磁性材料近表面缺陷的无损检验方法B、一种用来检查非多孔性材料的近表面缺陷的无损检验方法C、一种用来检查非多孔性材料近的表面和近面缺陷的无损检验方法D、一种用来检查非多孔性材料的表面（开口型）缺陷的无损检验方法
对交流电作半波整流是为了检验（）。A、表面缺陷B、内部缺陷C、表面和近表面缺陷D、以上都可以
液渗检测法适用于检验的缺陷是（）A、表面开口缺陷B、近表面缺陷C、内部缺陷D、以上都对
对交流做半波整流是为了更好地检验（）缺陷：A、表面缺陷B、内部缺陷C、表面与近面缺陷
渗透检测适合于检验非多孔性材料的（）。A、内部缺陷B、近表面缺陷C、表面开孔缺陷D、表面缺陷
液体渗透技术适合于检验非多孔性材料的：（）A、近表面缺陷B、表面和近表面缺陷C、表面缺陷D、内部缺陷
渗透检验法可检出的范围是（）。A、非铁磁性材料的近表面缺陷B、非多孔性材料的近表面缺陷C、非多孔性材料的表面和近表面缺陷D、非多孔性材料的表面缺陷
检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。
判断题检验近表面缺陷时，最好选用联合双晶探头。A对B错
单选题渗透检测法适用于检验的缺陷是（）。A表面开口缺陷B近表面缺陷C内部缺陷D以上都对
单选题渗透检测适合于检验非多孔性材料的（）A内部缺陷B近表面缺陷C表面开口缺陷D表面缺陷
判断题检验近表面缺陷时，最好采用联合双晶探头是因为该探头晶片前面带有机玻璃延迟块，减小了纵波单晶探头存在的阻塞。A对B错
单选题渗透检测适合于检验非多孔性材料的（）。A内部缺陷B近表面缺陷C表面开孔缺陷D表面缺陷
单选题渗透检验法可检出的范围是（）。A非铁磁性材料的近表面缺陷B非多孔性材料的近表面缺陷C非多孔性材料的表面和近表面缺陷D非多孔性材料的表面缺陷
单选题渗透检验是（）方法。A一种用来检查非铁磁性材料近表面缺陷的无损检验方法B一种用来检查非多孔性材料的近表面缺陷的无损检验方法C一种用来检查非多孔性材料近的表面和近面缺陷的无损检验方法D一种用来检查非多孔性材料的表面（开口型）缺陷的无损检验方法
单选题液体渗透技术适合于检验非多孔性材料的：（）A近表面缺陷B表面和近表面缺陷C表面缺陷D内部缺陷
单选题对交流作半波整流是为了检验（）：A表面缺陷B内部缺陷C表面和近表面缺陷D以上都可以