双晶探头用于探测工件近表面缺陷。

双晶探头用于探测工件近表面缺陷。


相关考题:

检验近表面缺陷最有效的方法是采用收发联合双晶探头

检验近表面缺陷,最有效的方法是()A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收发联合双晶探头

检验近表面缺陷,最有效的探头是()A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头

在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

双晶直探头的最主要用途是()。A、探测近表面缺陷B、精确测定缺陷长度C、精确测定缺陷高度D、用于表面缺陷检测

频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

检测近表面缺陷时,最好采用联合双晶探头。

表面波探头用于探测工件表面缺陷。

表面波探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

收/发联合双晶探头适合于检验近表面缺陷。

双晶探头用于探测工件()缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形

频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

表面波探头用于探测工件()。

检验近表面缺陷,最有效的方法是()。A、可变角探头B、直探头C、斜探头D、收/发联合双晶探头

双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。

单选题双晶直探头的最主要用途是()。A探测近表面缺陷B精确测定缺陷长度C精确测定缺陷高度D用于表面缺陷检测

问答题在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

判断题表面波探头用于探测工件表面缺陷。A对B错

判断题双晶片联合探头,由于盲区较小,因此有利于近表面缺陷的探测。A对B错

填空题频率()的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时,应选择()频率的探头。

填空题频率高的探头容易产生()的脉冲,因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择()频率的探头。

判断题检验近表面缺陷时,最好选用联合双晶探头。A对B错

单选题检验近表面缺陷,最有效的探头是()A可变角探头B直探头C斜探头D收/发联合双晶探头

判断题双晶探头主要用于近表面缺陷的探测。A对B错

单选题双晶探头用于探测工件()缺陷。A近表面B表面C内部D平面形

判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A对B错

单选题表面波探头用于探测工件()缺陷。A近表面B表面C内部D平面形