工件比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。
渗透探伤时，对表面粗糙的工件宜选用（）型渗透剂，对表面光洁的工件宜选用（）型渗透剂
频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
工件表面比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。
检测小型工件时，为了提高缺陷定位定量精度宜选用小晶片探头。
对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。
在探测厚度较大的工件时，选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减，便于发现远场区的缺陷。
表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
在探测厚度较小的工件时，选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程，避免近场区探伤。
接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
在平整光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样（）A、虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B、脉冲窄，探测灵敏度高C、探头与仪器匹配较好D、以上都对
探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少（），宜选用（）探头。
探测面曲率愈大，宜用芯片尺寸（）的探头，它可使透入试件的声能损耗减小。
填空题频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
填空题频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
判断题在探测厚度较小的工件时，选用较大K值的探头是为了增大一次波的声程，避免近场区探伤。A对B错
判断题在探测厚度较大的工件时，选用较小K值的探头是为了减少声程过大而引起的衰减，便于发现远场区的缺陷。A对B错
判断题工件表面比较粗糙时，为防止探头磨损和保护晶片，宜选用硬保护膜。A对B错
单选题在平整．光洁表面上作直探头探伤是宜使用硬保护膜探头，因为这样：（）A虽然耦合损耗大，但有利于减小工件中噪声B脉冲窄，探测灵敏度高C探头与仪器匹配较好D以上都对
填空题接触法超声波探伤，探测近距离（或小直径）工件时，为获得较大声场范围，可选用（）直径晶片的探头。
判断题对于表面不太平整，曲率较大的工件，为了减小耦合损失，宜选用大晶片探头。A对B错