在放边弯曲工件时,拉薄的工件表面()。 A.比较粗糙B.容易产生波纹C.比较光滑
采用超声脉冲法探测混凝土内部缺陷的基本依据是（）。A.低频超声波遇到缺陷产生绕射现象B.超声波在缺陷界面产生散射，且抵达接受探头时能量明显衰减C.超声脉冲波各频率成分遇到缺陷时衰减程度不同，接受波频谱与反射波频谱产生差异D.超声波在缺陷处的波形转换和叠加造成接受波形畸变
在放边弯曲工件时，拉薄的工件表面（）。A、比较粗糙B、容易产生波纹C、比较光滑
采用纵波超声波检测法进行检测时，容易较准确地探测出：（）。A、任何走向的缺陷。B、与工件探测面走向平行的缺陷。C、与工件探测面走向垂直的缺陷。D、比较薄的板材零件内的缺陷。
组合双探头脉冲反射法，有利用发现工件（）缺陷。A、深层B、近表面C、轻微D、严重
单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、工件材料衰减过大
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率，减小晶片尺寸D、以上都是
提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力
与表面光滑的工件相比，表面粗糙的工件直接接触探伤时，应使用（）。A、频率较底的探头和粘度小的耦合剂B、频率较高的探头和粘度大的耦合剂C、频率较底的探头和粘度大的耦合剂D、以上都对
为了检测是工件近表面缺陷的需要，应选用脉冲宽度小的仪器。
表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
单选题单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
填空题频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
填空题频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
单选题单斜探头检测时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是（）。A来自工件表面的杂波B来自探头的噪声C工件上近表面缺陷的回波D耦合剂噪声
单选题提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A用TR探头B使用窄脉冲宽频带探头C提高探头频率，减小晶片尺寸D以上都是
多选题在直接接触法直探头探伤时，底波消失的原因可能有（）A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D工件材料衰减过大
单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形
单选题表面波探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形