接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。


相关考题:

在下列方法中,适合于粗晶材料探伤的是()A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是

用平探头对曲面工件接触法探伤时,探伤面曲率越大,耦合效果()。

在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

垂直探伤时,工件探测面与底面不平行,底波将()或()

直探头接触法探伤时,发现缺陷回波较低,且底面回波降低或消失的原因是与工件表面呈()。

超声波接触法探伤一般采用()操作。

在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。

采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。

超声波探伤时,怎样选择工件探测面?

接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

接触法超声波探伤,当耦合层的厚度为λ/4的奇数倍时,透声效果()。

接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。

接触法超声波探伤,用底波高度法调整灵敏度时可不考虑耦合差,但是对厚工件深部位的缺陷应进行()补偿。

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法

采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。

在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为()。A、直射B、扫查C、反射D、折射

填空题接触法超声波探伤,当耦合层的厚度为λ/4的奇数倍时,透声效果()。

问答题在超声波探伤中,双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷?

填空题采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。

填空题接触法超声波探伤,对大于声束直径的缺陷,可采用()法或叫半波高度法测定其大小。

填空题接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

填空题采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。

单选题探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A斜射法B水浸法C接触法D穿透法

判断题在进行超声波探伤时,探测面上的探头与被检工件的相对移动称为扫查。A对B错

问答题超声波探伤时,怎样选择工件探测面?

填空题接触法超声波探伤,用底波高度法调整灵敏度时可不考虑耦合差,但是对厚工件深部位的缺陷应进行()补偿。

填空题接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。