填空题频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。

填空题
频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。

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用单探头法，要发现与声束取向不良的缺陷，应采用的探头频率()。A、愈高愈好B、愈低愈好C、不太高的频率D、较寻常为高的频率
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与表面光滑的工件相比，检验表面粗糙的工件时，一般应采用()A.较低频率的探头和较粘的耦合剂B.较高频率的探头和较粘的耦合剂C.较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D.较低频率的探头和粘度较小的耦合剂
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探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采用的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
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组合双探头脉冲反射法，有利用发现工件（）缺陷。A、深层B、近表面C、轻微D、严重
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超声探伤仪发射电脉冲破频率为（）A、探头的发射频率B、重复频率C、声波在工件的往返频率D、工件的固有振动频率
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提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率，减小晶片尺寸D、以上都是
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频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
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提高探头频率，增大晶片尺寸可以提高近表面缺陷的探测能力
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探头能控制适当的工作频率。随工件的变更，探伤工作频率也应相应变动，选择不同固有频率的探头就可完成该项工作。
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与表面光滑的工件相比，表面粗糙的工件直接接触探伤时，应使用（）。A、频率较底的探头和粘度小的耦合剂B、频率较高的探头和粘度大的耦合剂C、频率较底的探头和粘度大的耦合剂D、以上都对
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检测晶粒粗大的材料，应使用（）。A、高频率的探头B、底频率的探头C、双晶探头D、表面波探头
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焊缝探伤中探头角度选择主要的依据是（）。A、探测频率B、缺陷方向C、缺陷部位D、钢板的厚度
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焊缝探伤中探头角度选择的主要依据是（）。A、探测频率B、缺陷方向C、缺陷部位D、钢板的厚度
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表面波探头用于探测工件表面缺陷。
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表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
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双晶探头用于探测工件近表面缺陷。
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双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
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频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
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为探测出焊缝中与表面成不同角度的缺陷，应采取的方法是（）A、提高探测频率B、用多种角度探头探测C、修磨探伤面D、以上都可以
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单探头探伤时，在近区有幅度波动较快，探头移动时水平位置不变的回波，它们可能是：（）。A、来自工件表面的杂波B、来自探头的噪声C、工件上近表面缺陷的回波D、耦合剂噪声
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填空题频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
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单选题与表面光滑的工件相比，检验表面粗糙的工件时，一般应采用（）A较低频率的探头和较粘的耦合剂B较高频率的探头和较粘的耦合剂C较高频率的探头和粘度较小的耦合剂D较低频率的探头和粘度较小的耦合剂
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单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形
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判断题双晶探头用于探测工件近表面缺陷。A对B错
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单选题表面波探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形
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