为改变超声波传递透入工件的条件和透入工件的超声波能量,在探头和探测面之间施加一种介质,这种介质称为()。 A、湿润剂B、耦合剂C、传声剂D、润滑剂
为改善超声波传递透入工件的条件和提高透入工件的超声波能量,在探头和探测面间施加一种介质,这种介质称为() A、湿润剂B、耦合剂C、传声剂D、润滑剂
用折射角45°的斜探头探测钢板中离探测面距离 50mm的缺陷，它的回波前沿应显示于测距标尺满刻度100mm声程的（ ）刻度。A.5B.7C.3.5D.10
曲面工件探伤时，探伤面曲率半径愈大，耦合效果愈好。
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
直探头辐射透入试件的波可以是横波也可以是表面波或板波。
用平探头对曲面工件接触法探伤时，探伤面曲率越大，耦合效果（）。
双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远，覆盖区愈大。
用串联式探头进行操作扫查，主要用来检测（）的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面
（）是指施加于探头和试件表面之间，使超声能量传入试件的液态介质。A、 耦合剂B、 探头线C、 仪器D、 缺陷
将纵波垂直透入试件的探头，称为（）。A、直探头B、斜探头C、表面波探头D、组合探头
接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称为（）。A、湿润剂B、耦合剂C、传声剂D、润滑剂
探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法，称为（）。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法
直探头辐射透入试件的波（）A、只能是纵波B、也可以是横波C、也可以是表面波或板波
用IIW标准块试块测定斜探头的折射角，在探测任何声波的试件时此值（）。A、不变B、变化
将纵波垂直透入试件的探头，称为（）A、直探头B、斜探头C、表面波探头
用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A、不变B、变化
探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少（），宜选用（）探头。
填空题探测面曲率愈大，宜用芯片尺寸（）的探头，它可使透入试件的声能损耗减小。
单选题接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头
填空题探测表面不太平整，曲率较大的工件时，为减少（），宜选用（）探头。
单选题为提高透入工件的超声波能量，在探头和探测面间施加一种介质，这种介质称为（）。A湿润剂B耦合剂C传声剂D润滑剂
判断题双晶直探头倾角越大，交点离探测面距离愈远，复盖区愈大。A对B错
单选题将纵波垂直透入试件的探头，称为（）A直探头B斜探头C表面波探头
单选题用IIW试块测定的斜探头的折射角度，在探测任何声束的试件时，比值（）。A不变B变化
单选题（）是指施加于探头和试件表面之间，使超声能量传入试件的液态介质。A耦合剂B探头线C仪器D缺陷