填空题接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

填空题
接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

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相关考题:

超声波探伤,为减少近场长度应选用()的探头。A.低频率B.较小晶片C.低频率和较小晶片D.较大晶片

在下列方法中,适合于粗晶材料探伤的是()A、采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B、将接触法探伤改为液浸法探伤C、采用小直径探头探伤D、以上都是

一般来说,下面哪种技术适用于小直径薄壁管探伤()A、接触法单探头B、水浸法聚焦探头C、接触法双探头D、水浸法平探头

一般来说,下面哪种技术不适用于小直径棒材探伤()A、接触法横波单探头B、水浸法聚焦探头C、接触法纵波单探头D、接触法联合双探头

采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。

接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

用单晶片探头探伤时,探头只能发射或接收超声波。

超声波探伤,为减少近场长度应选用()的探头.A、低频率B、较小晶片C、低频率和较小晶片D、较大晶片

接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A、斜射法B、水浸法C、接触法D、穿透法

在超声波探伤中,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径()的探头。

超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或直径()的探头。

采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。

超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。

单选题探头晶片与试件探测面不平行的超声波探伤法,称为()。A斜射法B水浸法C接触法D穿透法

填空题接触法超声波探伤,探测距离较大时,为获得较为集中的能量,应选用()直径晶片的探头。

单选题在下列方法中,适合于粗晶材料探伤的是()A采用大直径、低频、纵波、窄脉冲探头探伤B将接触法探伤改为液浸法探伤C采用小直径探头探伤D以上都是

单选题一般来说,下面哪种技术适用于小直径薄壁管探伤()A接触法单探头B水浸法聚焦探头C接触法双探头D水浸法平探头

填空题采用接触法超探,探测距离大时,为获得较集中的能量,应选用()直径的晶片。

单选题一般来说,下面哪种技术不适用于小直径棒材探伤()A接触法横波单探头B水浸法聚焦探头C接触法纵波单探头D接触法联合双探头

填空题在超声波探伤中,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径()的探头。

单选题超声波探伤,为减少近场长度应选用()的探头.A低频率B较小晶片C低频率和较小晶片D较大晶片

填空题超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或直径()的探头。

填空题聚焦探头的焦点尺寸与晶片直径、波长和焦距有关,晶片直径(),波长(),焦距(),则焦点小。

填空题探测表面不太平整,曲率较大的工件时,为减少(),宜选用()探头。

填空题采用接触法超探,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径的晶片。

填空题接触法超声波探伤,探测近距离(或小直径)工件时,为获得较大声场范围,可选用()直径晶片的探头。

判断题超声波探伤,为减少近场长度应选用低频率或晶片直径较小的探头。A对B错