X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。

  • A、增大
  • B、减小
  • C、不变
  • D、无变化

相关考题:

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积增大时,谱线的强度()。 A、增大B、减小C、不变

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对,错)。

在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

X射线荧光中所谓的基体,是指整个分析试样的元素,但不包括()。

波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管

X射线荧光分析时基体效应的基体,是指分析时试样中除()元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性

在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与曝光时间无关。

高能X射线照射到物质上以后,一般会出现以下哪几种X射线()A、荧光X射线B、散射X射线C、衍射X射线D、透过X射线

X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

X射线荧光光谱法是基于原子内层电子能级跃迁的光谱法。

X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关,因此,在测量时采取转动试样的方法,以减少误差。

X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱

X射线荧光分析理想试样应满足条件是什么?

X射线荧光光谱仪中的第一准直器设置在试样与()之间。A、X射线管B、晶体C、探测器

X射线荧光的波长轻元素的波长较短,重元素的波长较长。

在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线

试样受X射线照射后,其中各元素原子的()被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线,或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与()无关。

判断题在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。A对B错

多选题高能X射线照射到物质上以后,一般会出现以下哪几种X射线()A荧光X射线B散射X射线C衍射X射线D透过X射线