对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)
X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。
X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。此题为判断题(对，错)。
用二次x射线来分析物质所含元素的种类及含量的方法称为（）。
X-射线衍射可用来测试的样品有（）A、粉末；B、薄片；C、薄膜；D、都可以
影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、（）、（）
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果，应使用有证的标准样品，标准样品与分析试料的（）尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔
X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法是根据靶线的康普顿散射线的强度很敏感地受样品成分的影响而设计的分析方法。
在X射线荧光分析中，当样品研磨到极细时，则（）基本消失；将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时，分析线所受的（）与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应
一次X射线激发样品时最大的特点是样品被激后只发射（）X射线。A、特征B、平行C、散射D、连续
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
采用X射线荧光光谱法分析粉末样品，造成分析误差的因素中，粒度效应和（）占很大比例。
在X射线荧光分析中内标法往往可以采用将样品制成溶液的形式或以熔剂熔融的方式进行。
X射线荧光光谱法分析金属样品，分析面的光洁程度不会影响分析精度。
X射线荧光光谱法中，分析微量Al的样品不能用（）磨料抛光。
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
由X射线管发出的一次X射线激发样品，使样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A、光子B、荧光C、光谱D、线束
在X射线光谱分析中，光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于
X射线荧光光谱法分析金属样品，取样过程中冷却条件的差异不会造成分析误差。
进行X射线荧光光谱分析的样品，可以是固态，也可以是水溶液。
问答题有一种未知多晶材料，请用所学的材料近现代分析测试技术（X射线衍射技术，扫描电镜和透射电镜分析技术），提出材料组成，组织结构分析的可行方案；并简述采用X射线衍射技术对样品进行定性相分析的原理及步骤。
问答题简述从X射线衍射图谱中可以知道被检测样品那些结构信息？