X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。

  • A、谱线
  • B、波长
  • C、特征线
  • D、强度

相关考题:

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对,错)。

在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。

X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为()A、全谱段波长B、0.001~10nmC、0.01~120nmD、0.1~800nm

波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是()计数器,用于探测轻元素X射线荧光是()正比计数器,封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

设一次X射线以一定角度入射到试样表面,当各种实验条件固定不变时,产生的荧光X射线的强度与待测元素在试样中的()成正比。如果事先建立了两者之间的关系,即可据此关系进行(),建立两者之间关系的过程即为()。

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与曝光时间无关。

原子受高能辐射,其内层电子发生能级跃迁,发射出特征X射线(X射线荧光),通过测定其强度进行定量分析的方法被称为()A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法

X射线荧光能量与入射的能量有关,入射能量越大,荧光能量越强。

波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱,尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。

X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()A、定性分析B、定量分析C、都不是

X射线荧光定量分析是对()X射线的强度进行测量。

X射线荧光分析连续X射线中短波限与()有关。A、X光管电流B、X光管电压C、X光管靶材D、连续谱

在x射线荧光分析法中,由x射线管直接产生的x射线是()。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光

由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。

X射线荧光的波长轻元素的波长较短,重元素的波长较长。

在X射线荧光分析法中,X荧光是指()。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线

试样受X射线照射后,其中各元素原子的()被激发逐出原子而引起壳层电子跃迁,并发射出该元素的特征X射线称为二次X射线,或称为X射线荧光。A、外层电子B、内层电子C、原子D、高能电子

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

在X射线实时成像中,射线照射工件传到荧光屏上所产生的显示与射线强度有关,而与()无关。

能量色散X射线荧光法元素激发条件可用()控制。A、调节X射线管电压B、调节X射线管电流强度C、增加测定时间D、增加X射线强度

问答题特征X射线与荧光X射线的产生机理有何异同?某物质的K系荧光X射线波长是否等于它的K系特征X射线波长?

问答题特征X射线和荧光X射线产生的机理有何异同?某物质的K系荧光X射线是否等于它的K系特征X射线?

判断题在X射线荧光分析中,元素的原子序数越大,产生的X射线荧光波长越小。A对B错

问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?