X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。此题为判断题(对，错)。

X射线萤光光谱分析样品时对样品有损伤。

此题为判断题(对，错)。

相关考题：

对样品进行表面形貌分析时应使用()。A、X射线衍射(XRD)B、透射电镜(TEM)C、扫描电镜(SEM)

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X射线萤光光谱分析法的优点是()快,()简单,()好,()宽。

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X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。

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X射线光管发出的X射线与样品的（hkl)晶面衍射线（圆周角)均为，故样品各处之（hkl)晶面衍射线聚焦于一点F。

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X射线荧光光谱分析中，X光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长时才能激发样品

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1、X射线可以分析的样品种类不包括A．薄膜样品B．液体样品C．块体样品D．粉末样品

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37、X射线荧光光谱分析中，X光管产生的X射线波长应（）样品中待测元素的X射线波长时才能激发样品。

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6、由X射线管发出的一次X 射线激发样品，是样品所含元素辐射出二次X射线，即X射线（）。A．光子B．荧光C．光谱D．线束

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【填空题】化学分析、光谱分析、X射线荧光光谱分析、X射线微区域分析等均可测定样品的元素组成，但却可鉴别样品中的物相。

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