多选题对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时,样品放置应满足()A从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的左边B从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的右边C样品放置,应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器D样品放置位置关系不大,只要能满足聚焦清晰即可

多选题
对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时,样品放置应满足()
A

从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的左边

B

从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的右边

C

样品放置,应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器

D

样品放置位置关系不大,只要能满足聚焦清晰即可


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对特征X射线光谱的()。

影响X射线荧光分析的三个主要因素是样品非均匀性、()、()

简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?

X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了()。

X射线荧光仪样品室抽真空,其目的是为了减少空气对()的吸收。

X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

X射线荧光光谱法为了获得准确的定量分析结果,应使用有证的标准样品,标准样品与分析试料的()尽可能一致。A、组成B、制样方法C、样品无裂纹D、样品无气孔

在X射线荧光分析中,当样品研磨到极细时,则()基本消失;将样品制成薄层并薄到临界厚度以下时,分析线所受的()与样品的组成无关。A、均匀性B、粒度效应C、辐射D、吸收-增强效应

一次X射线激发样品时最大的特点是样品被激后只发射()X射线。A、特征B、平行C、散射D、连续

X-荧光光谱测定时放置样品时的有什么要求?

台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。

开关柜触头镀银层厚度在出厂验收阶段或安装调试阶段现场检测或取样送检。建议采用()等能保证精度的设备进行开关柜触头镀银层厚度测量。A、X射线荧光镀层检测仪B、回路电阻测试仪C、手持式X射线荧光光谱仪D、机械特性测试仪

对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时,样品放置应满足()A、从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的左边B、从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的右边C、样品放置,应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器D、样品放置位置关系不大,只要能满足聚焦清晰即可

X射线荧光光谱法分析金属样品,对分析面的要求是什么?

X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时,原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。

X射线荧光光谱法测定铁水成分,只需样品大小合适,对检测表面制样没什么要求。

X射线荧光光谱法分析金属样品,分析面的光洁程度不会影响分析精度。

X射线荧光仪需要抽真空的部位有()。A、机壳内部B、样品室C、真空室D、探测器

X射线荧光光谱法中,分析微量Al的样品不能用()磨料抛光。

由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

X射线荧光光谱仪激发样品的光源有:()、放射性核、质子和同步辐射光源。

顺序式波长色散X射线荧光光谱仪由X射线管、()、准直器、测角仪、()以及样品室、计数电路和计算机组成。

进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。

简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求?

多选题对交流隔离开关及接地开关触头镀银层厚度检测时,样品放置应满足()A从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的左边B从正面看,X射线荧光接收器在所放样品位置的右边C样品放置,应保证X射线荧光不受干扰地到达探测器D样品放置位置关系不大,只要能满足聚焦清晰即可

判断题台式X射线荧光镀层测厚仪和手持式X射线荧光光谱仪相比,更适合不规则样品的镀层检测。A对B错

多选题开关柜触头镀银层厚度在出厂验收阶段或安装调试阶段现场检测或取样送检。建议采用()等能保证精度的设备进行开关柜触头镀银层厚度测量。AX射线荧光镀层检测仪B回路电阻测试仪C手持式X射线荧光光谱仪D机械特性测试仪

单选题隔离开关镀银层厚度检测使用X射线荧光镀层测厚仪,通过从被检件上反射的二次X射线强度测量镀银层厚度,检测范围可达()μm。A0.1-5B0.01-5C0.1-50D0.01-50