X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A、全谱段波长B、0.001～10nmC、0.01～120nmD、0.1～800nm
X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）
- A、全谱段波长
- B、0.001～10nm
- C、0.01～120nm
- D、0.1～800nm
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波长色散X荧光光谱仪中用于探测重元素X射线荧光是（）计数器，用于探测轻元素X射线荧光是（）正比计数器，封闭式正比计数器是用于探测限定的几个元素的X射线荧光。A、闪烁B、半导体C、流气式D、光电倍增管
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A、内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B、内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C、内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D、两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法
单选题用内标法进行X射线荧光进行定量分析，选择内标物应遵循（）A内标物与被测物的激发X射线波长相近，基体对两者荧光吸收相近B内标物与被测物的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相近C内标物与被测物的激发X射线波长相近，，基体对两者荧光吸收相差大D两者的激发X射线波长相差大，基体对两者荧光吸收相差大
判断题原子受高能辐射，其外层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为X射线荧光分析法。A对B错