粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,我们采用()对粉末样进行定型。A、铁环B、PVC环C、钢环D、铝环

粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,我们采用()对粉末样进行定型。

  • A、铁环
  • B、PVC环
  • C、钢环
  • D、铝环

相关考题:

主药含量较低的片剂宜采用的制备工艺是( )A.粉末直接压片法B.湿法制粒压片C.干颗粒法压片D.空白颗粒法压片E.结晶压片

以挥发油为原料制备片剂时,宜采用( )A.湿法制粒压片B.干颗粒法压片C.粉末直接压片法D.空白颗粒法压片E.结晶压片

对湿、热不稳定且可压性差的药物,宜采用()A、粉末直接压片B、空白颗粒法C、结晶直接压片D、干法制粒压片E、湿法制粒压片

采用喷涂法进行粉末涂装时的粉末附着方式是熔融附着。此题为判断题(对,错)。

直接把药物粉末和预先制好的辅料颗粒混合后进行压片的是A.湿法制粒压片法B.干法制粒压片法C.半干法制粒压片法D.直接制粒压片法E.直接粉末压片法

将药物和辅料的粉末混合均匀、压缩成大片状或板状后,粉碎成所需大小颗粒后压片。该方法是A.湿法制粒压片法B.干法制粒压片法C.半干式颗粒压片法D.粉末直接压片法E.结晶直接压片法

干法制粒压片包括A.滚压法,重压法,流化喷雾制粒法B.粉末直接压片,结晶直接压法C.重压法,滚压法D.一步制粒法,喷雾制粒法E.重压法,粉末直接压片法

(88~90题共用备选答案)A.湿法制粒压片法B.干法制粒压片法C.半干法制粒压片法D.直接制粒压片法E.直接粉末压片法直接把药物粉末和辅料的混合物进行压片的是

对热敏性、湿敏性、极易溶性等的物料不能采用的压片方法是A.湿法制粒压片法B.干法制粒压片法C.半干式颗粒压片法D.粉末直接压片法E.结晶直接压片法

直接把药物粉末和辅料的混合物进行压片的是A.湿法制粒压片法B.干法制粒压片法C.半干法制粒压片法D.直接制粒压片法E.直接粉末压片法

避开制粒过程,将药物粉末直接压成片剂的方法是()A、干法压片B、结晶压片法C、干法制粒压片法D、粉末直接压片法E、湿法制粒压片法

采用喷涂法进行粉末涂装时的粉末附着方式是熔融附着。

亲水凝胶骨架型缓释片可通过()进行制备.A、湿法制粒压片B、干法制粒压片C、粉末直接压片D、浇注法E、熔融法

处方中主要药物的剂量很小,片剂可以采用下列何种工艺制备()A、结晶压片法B、干法制粒法C、粉末直接压片D、空白颗粒法

目前我们化验室对粉末样品所采用X荧光仪分析有()方法。A、压片法B、薄膜法C、熔融制样法D、离心浇铸法

下列哪几种设备是X荧光粉末样品熔融法的制样设备()。A、熔融炉B、压片机C、振动研磨机D、马弗炉

采用玻璃熔片法X荧光仪分析转炉渣,在熔制玻璃熔片时,需要加入()A、四硼酸锂B、碳酸锂C、碘化铵D、钴共熔体

采用X射线荧光光谱法分析粉末样品,造成分析误差的因素中,粒度效应和()占很大比例。

在X荧光仪分析铁水时,我们规定当本炉S含量()时,必须重新磨样分析进行确认。A、≥0.040%B、≥0.050%C、≥0.060%D、≥0.070%

X射线荧光分析粉末试样时,采用玻璃熔片法可以消除()带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应

X荧光分析法可以分析下列哪些样品类型()。A、固体B、气体C、粉末D、液体

粉末压片法的制样步骤大体分为:干燥、焙烧、混合、研磨、()。

粉末压片法X荧光仪分析高炉渣时,将试样颗粒在粉碎机内粉碎制成粒度约()的粉末试样。A、100目B、120目C、150目D、180目

X荧光分析粉末压片法分析烧结矿样品,样品的()会造成分析误差。A、粒度效应B、矿物效应C、酸度变化

X射线荧光光谱法中,处理粉末样品的方法主要有压片法和()

判断题采用喷涂法进行粉末涂装时的粉末附着方式是熔融附着。A对B错

单选题避开制粒过程,将药物粉末直接压成片剂的方法是()A干法压片B结晶压片法C干法制粒压片法D粉末直接压片法E湿法制粒压片法