X 射线衍射分析的粉末试样必须满足两个条件:( )和( )。
X射线荧光光谱标准加入法可通过（）求得试样的分析结果。A、计算法B、实验C、作图法D、回归方程
X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
X射线荧光光谱法中，当试样的有效照射面积缩小时，元素的X射线荧光强度（）。A、增大B、减小C、不变D、无变化
把粉末样品加压成型，制成Ｘ射线荧光分析试样的方法叫做（）
原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A、原子荧光分析法B、X射线荧光分析法C、X射线吸收分析法D、X射线发射分析法
X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是（）A、电极污染B、强光直射C、试样表面没有打磨D、以上都是
X射线荧光光谱仪，激发光源采用X射线，试样表面避免了由于电弧容易产生应力裂纹和烧损。
在X射线荧光分析中，一个理想的待测固体试样应满足（）A、有代表性B、试样均匀C、表面平整、光洁、无裂纹D、试样有足够厚度，不变形
X射线荧光光谱法分析线的强度与分析面的磨纹方向有关，因此，在测量时采取转动试样的方法，以减少误差。
X射线荧光光谱法分析金属样品，对分析面的要求是什么？
X射线荧光分析粉末试样时，采用玻璃熔片法可以消除（）带来的分析误差。A、粒度效应B、吸收C、增强D、矿物效应
X射线荧光光谱分析的试样，可以是固态，也可以是水溶液。试样制备的情况对测定误差无影响。
在x射线荧光分析法中，由x射线管直接产生的x射线是（）。A、一次X射线B、二次X射线C、次级射线D、X荧光
X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
在X射线荧光分析法中，X荧光是指（）。A、一次X射线B、二次X射线C、由X射线管直接产生的X射线D、由高速电子流产生的X射线
X射线荧光定量分析时，采用比较标准法，其适宜的分析对象的特征是什么？其标准样的配制应注意什么？
简述能量色散X射线荧光分析中X射线探测器应满足哪些要求？
用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
单选题原子受高能辐射，其内层电子发生能级跃迁，发射出特征X射线（X射线荧光），通过测定其强度进行定量分析的方法被称为（）A原子荧光分析法BX射线荧光分析法CX射线吸收分析法DX射线发射分析法
问答题X射线荧光定量分析时，采用比较标准法，其适宜的分析对象的特征是什么？其标准样的配制应注意什么？
单选题X射线荧光光谱分析形成误差的可能性是（）A电极污染B强光直射C试样表面没有打磨D以上都是
问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？