由于衬底晶向排列比较规则,注入的离子没有与硅原子碰撞,穿入到硅衬底很深的位置的现象称

由于衬底晶向排列比较规则,注入的离子没有与硅原子碰撞,穿入到硅衬底很深的位置的现象称


参考答案和解析
沟道效应

相关考题:

非晶硅太阻电池需要有衬底。此题为判断题(对,错)。

光盘分为三层,由正面到背面分别为()A.透明衬底,数据层,保护层B.透明衬底,保护层,数据层C.保护层,数据层,透明衬底D.数据层,透明衬底,保护层

非晶硅太阳能电池需要有衬底()。 此题为判断题(对,错)。

通常情况下,我们改变工艺条件使刻蚀进行中()的刻蚀速率尽量低。A、光刻胶B、衬底C、表面硅层D、扩散区E、源漏区

光盘分为三层,由正面到背面分别为()。A、透明衬底,数据层,保护层B、透明衬底,保护层,数据层C、保护层,数据层,透明衬底D、数据层,透明衬底,保护层

硅外延生长工艺包括()。A、衬底制备B、原位HCl腐蚀C、生长温度,生长压力,生长速度D、尾气的处理

一般来说,溅射镀膜的过程包括()这几步。A、产生一个离子并导向靶B、被轰击的原子向硅晶片运动C、离子把靶上的原子轰出来D、经过加速电场加速E、原子在硅晶片表面凝结

通常,一个线性排列的CCD元件有P型硅衬底和许多电极组成,在铝电极和硅衬底之间有一层二氧化硅,电极上存在高电位时将形成耗尽区,这是()的结果。A、空穴移向衬底深处B、空穴移向二氧化硅层C、电子移向二氧化硅层D、电子移向衬底层深处

硅微体刻蚀加工和硅微面刻蚀加工的区别在于()A、体刻蚀加工对基体材料进行加工,而面刻蚀加工不对衬底材料进行加工B、体刻蚀加工不对基体材料进行加工,而面刻蚀加工对衬底材料进行加工C、体刻蚀加工可获得高纵横比的结构,而面刻蚀加工只能获得较低纵横比的结构

关于多晶硅和非晶硅电池,以下说法错误的是()A、在扩散运动中,只有注入的少子存在很大的浓度梯度,因此扩散电流主要是由少子贡献。B、非晶硅对可见光谱的吸收很强,是晶硅的500倍,整个太阳光谱中的吸收系数也为单晶硅的40倍,因此非晶硅电池可做的很薄。C、多晶硅和非晶硅电池都是由pn结构成的,因此它们的基本结构是相同的。D、与晶体硅电池相比,非晶硅电池中存在光诱导退化效应(S-W效应),但其光电转化效率随温度升高下降较慢。

各种踢脚线的不同基层衬底为()。A、木踢脚板以木基层为衬底B、聚氯乙烯塑料踢脚板以木基层为衬底C、氯化聚乙烯塑料卷材踢脚板以水泥类基层为衬底D、石材踢脚板以水泥类基层为衬底E、玻璃踢脚板既有以水泥类基层为衬底,也有木基层为衬底

判断题世界上第一块集成电路是用硅半导体材料作为衬底制造的。A对B错

填空题为了降低注入离子对衬底由于热沉积产生的温升,在高剂量、大束流离子注入时,可以采用()扫描方式,在低剂量、小束流时一般用()方式注入。

单选题按照衬底材料不同,硅光电二极管分为2CU和2DU两种系列。它们主要有两个不同点:请选择正确的答案()A2CU是以N-Si为衬底,2DU是以P-Si为衬底;2CU型管还设了一个环极;B2CU是以P-Si为衬底,2DU是以N-Si为衬底,2CU型管还设了一个环极;C2CU是以N-Si为衬底,2DU是以P-Si为衬底,2DU型管还设了一个环极;D2CU是以P-Si为衬底,2DU是以N-Si为衬底,2DU型管还设了一个环极。

填空题根据向衬底输送原子的方式可以把外延分为:()、()、()。

单选题化学气相淀积SiO2与热生长SiO2相比较,下面哪些说法是正确的:()。  1.热生长SiO2只能在Si衬底上生长; 2.CVD SiO2可以淀积在硅衬底上,也可以淀积在金属、陶瓷、及其它半导体材料上; 3.CVD SiO2,衬底硅不参加反应; 4.CVD SiO2,温度低。A1、2B2、4C1、4D1、2、4E1、2、3、4

填空题在外延工艺中,如果膜和衬底材料(),例如硅衬底上长硅膜,这样的膜生长称为();反之,膜和衬底材料不一致的情况,例如硅衬底上长氧化铝,则称为()。

判断题CVD是利用某种物理过程,例如蒸发或者溅射现象实现物质的转移,即原子或分子由源转移到衬底(硅)表面上,并淀积成薄膜。A对B错

填空题在P型衬底上画nmos器件时需要在P型衬底上加(),并用金属线把这个()与P型衬底内的()电位相连接。

判断题西门子工艺生产的硅没有按照希望的晶体顺序排列原子。A对B错

问答题硅气相外延工艺采用的衬底不是准确的晶向,通常偏离(100)或(111)等晶向一个小角度,为什么?

填空题提拉出合格的单晶硅棒后,还要经过()、()、()等工序过程方可制备出符合集成电路制造要求的硅衬底片。

单选题硅光电二极管与硅光电池相比,前者比后者不正确的说法是()A衬底掺杂浓度高;B电阻率高;C光敏面小;D前者反偏后者无偏;

问答题比较砷化镓和磷化铟等衬底与硅衬底上的电感等效电路,试分析两者存在差异的原因。

填空题离子注入在衬底中产生的损伤主要有()等三种。

单选题硅微体刻蚀加工和硅微面刻蚀加工的区别在于()。Aa.体刻蚀加工对基体材料进行加工,而面刻蚀加工不对衬底材料进行加工;Bb.体刻蚀加工不对基体材料进行加工,而面刻蚀加工对衬底材料进行加工;Cc.体刻蚀加工可获得高纵横比的结构,而面刻蚀加工只能获得较低纵横比的结构;

单选题通常,一个线性排列的CCD元件有P型硅衬底和许多电极组成,在铝电极和硅衬底之间有一层二氧化硅,电极上存在高电位时将形成耗尽区,这是()的结果。A空穴移向衬底深处B空穴移向二氧化硅层C电子移向二氧化硅层D电子移向衬底层深处

填空题半导体集成电路主要的衬底材料有单元晶体材料()、()和化合物晶体材料()、();硅COMS集成电路衬底单晶的晶向常选();TTL集成电路衬底材料的晶向常选();常用的硅集成电路介电薄膜是()、();常用的IC互连线金属材料是()、()。