在实际探伤中,若以试块上某一深度的人工反射体调整好的灵敏度去探测工件时,必须再加上工件与试块表面耦合损耗dB差值就称为()。

在实际探伤中,若以试块上某一深度的人工反射体调整好的灵敏度去探测工件时,必须再加上工件与试块表面耦合损耗dB差值就称为()。


相关考题:

钢轨探伤仪缺陷检测能力试验,在某一固定的探伤灵敏度和无误报的情况下,应能逐个发现GTS—60试块上除( )下裂以外的其他各种人工缺陷。A、15°B、20°C、30°D、37°

在钢轨探伤中,如何调整好0°探头通道的探伤灵敏度?

在正常探伤灵敏度下,从探测表面到最近可探反射体的距离,称为仪器的探测盲区。 ( )此题为判断题(对,错)。

探伤仪调整到实际钢轨探伤状态,在正常的探测速度下推行,应能检出GTS-60试块上的各种人工缺陷,并能正常报警。()此题为判断题(对,错)。

磁粉探伤用环形人工缺陷试块用于线圈法的磁粉材料和系统灵敏度的评价

用有人工反射体的参考试块主要目的是()A、作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B、为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体

CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。

超声检测中,使用对比试块的主要目的是()A、为检出小于某一规定参考反射体的所有缺陷提供保障B、为检测人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C、检测仪器校准(设定探伤灵敏度)和缺陷的定量D、能依据对比试块上人工反射体类型,从而精确地推断出所探缺陷的性质

使用对比试块的主要目的是()。A、作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷的严重程度提供依据B、为探伤人员提供一种确定的缺陷实际尺寸的工具C、为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D、提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体

灵敏度确定后,按轴型进行半轴实物试块灵敏度验证。在半轴实物试块上探测镶入部内、外侧1mm深人工裂纹,应正常有效检出,波高幅度≥80%。

在正常探伤灵敏度下,从探测表面到最近可探反射体的距离,称为仪器的探测盲区。

()试块是专供钢轨探伤灵敏度校验用的试块。

用试块校准工件的探伤灵敏度时,需考虑的主要修正为()。A、表面光洁度的修正B、材质衰减的修正C、反射体深度的修正

应钢轨探伤仪缺陷检测能力试验,在某一固定的探伤灵敏度和无误报的情况下,能逐个发现GTS—60试块上除()下裂以外的其他各种人工缺陷。A、15°B、20°C、30°D、37°

探伤仪调整到实际钢轨探伤状态,在正常的探测速度下推行,应能检出GTS-60试块上的各种人工缺陷,并能正常报警。

在远场区用探测面为平面的对比试块中的Φ2mm平底孔校准的探伤灵敏度,去探测一个探测面为圆柱面的试件,发现一个深度和回波高度均与上述试块平底回波相同的缺陷,则该缺陷的当量:()A、等于Φ2mm平底孔B、比Φ2mm平底孔大C、比Φ2mm平底孔小D、大于等于Φ2mm平底孔

用灵敏度标准试块调整探伤灵敏度进行探伤的方式叫()。A、对比方式B、标准方式C、仪器方式D、试块方式

直探头探伤,反射体距离小于三倍近场区长度时,校准探测灵敏度应采用()。A、磁强计B、标准试块C、对比试块D、以上都对

判断题探伤仪调整到实际钢轨探伤状态,在正常的探测速度下推行,应能检出GTS-60试块上的各种人工缺陷,并能正常报警。A对B错

单选题超声检测中,使用对比试块的主要目的是()A为检出小于某一规定参考反射体的所有缺陷提供保障B为检测人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C检测仪器校准(设定探伤灵敏度)和缺陷的定量D能依据对比试块上人工反射体类型,从而精确地推断出所探缺陷的性质

判断题CSK-ⅡA试块上的人工反射体是Φ1×6 。A对B错

单选题应钢轨探伤仪缺陷检测能力试验,在某一固定的探伤灵敏度和无误报的情况下,能逐个发现GTS—60试块上除()下裂以外的其他各种人工缺陷。A15°B20°C30°D37°

单选题同直径的三个平底孔处于同一试块中,但深度分别为100、200和300mm,在用直探头以相同探伤灵敏度下探测时,回波最高的平底孔深度为()。A100mmB200mmC300mmD都相同

判断题在正常探伤灵敏度下,从探测表面到最近可探反射体的距离,称为仪器的探测盲区。A对B错

单选题用试块校准工件的探伤灵敏度时,需考虑的主要修正为()。A表面光洁度的修正B材质衰减的修正C反射体深度的修正

单选题用有人工反射体的参考试块主要目的是()A作为探测时的校准基准,并为评价工件中缺陷严重程度提供依据B为探伤人员提供一种确定缺陷实际尺寸的工具C为检出小于某一规定的参考反射体的所有缺陷提供保证D提供一个能精确模拟某一临界尺寸自然缺陷的参考反射体

填空题在实际探伤中,若以试块上某一深度的人工反射体调整好的灵敏度去探测工件时,必须再加上工件与试块表面耦合损耗dB差值就称为()。