简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光光谱分析中，适当选择分析晶体是消除谱线重叠干扰方法之一。
以下说法错误的是（）A、X射线荧光光谱分析时，枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时，严禁雨天在室外进行光谱分析工作，避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时，严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时，人和机器要有防坠装置
X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。
X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤，即（）、（）、（），对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录，根据记录数据得出定性、定量分析结果。
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
X射线荧光仪在以X射线管作为激发源时，原级X射线光谱中特征光谱是用于激发样品的主要光源。
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。A、经验系数法B、计算法C、基本参数法D、理论影响系数法
波长色散X射线荧光光谱仪使用滤光片的目的是消除或者降低来自X射线管发射的原级X射线谱，尤其是靶材的特征X射线谱对待测元素的干扰。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
波长色散X射线荧光光谱仪是利用（）将不同波长的X射线荧光分开，得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
X射线荧光分析用于激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、连续光谱C、带状光谱D、散射线
X射线荧光分析激发试样和产生背景的主要能源是（）。A、特征光谱B、散射线C、带状光谱D、连续光谱
试从能级跃迁机理比较原子发射光谱、原子荧光光谱和X-射线荧光光谱的异同。
用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
问答题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
判断题X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。A对B错
问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？
问答题简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。
问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？