问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?

问答题
利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么?X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍(B)—铀(U),为什么不能分析轻元素(氢、氦和锂)?

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X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。此题为判断题(对,错)。

X射线荧光光谱仪可测出样品中的:().A、部分元素的含量B、全部元素的含量C、矿物含量

用手持式X射线荧光光谱仪分析钢材中Si、Al元素时,激发时间要适当加长。

X射线荧光光谱法中,当试样的有效照射面积缩小时,元素的X射线荧光强度()。A、增大B、减小C、不变D、无变化

X射线荧光光谱法可以分析所有的元素。

以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。

X射线荧光光谱法的分析过程包括以下几个步骤,即()、()、(),对分光后的各单色X射线荧光进行检测、记录,根据记录数据得出定性、定量分析结果。

X射线荧光分析中特征X射线光谱是由一组表示发光元素的()波长所组成,其中各条特征谱线的()强度各不相同。A、不连续B、连续C、散射D、相对

X射线荧光光谱分析中,连续光谱激发样品时,连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源,会影响分析元素的检测限,尤其对痕量元素。

X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行()A、定性分析B、定量分析C、都不是

波长色散X射线荧光光谱仪是利用()将不同波长的X射线荧光分开,得到单色X射线荧光光谱。A、分光晶体B、光栅C、棱镜D、反射镜

X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

元素的X射线特征光谱波长倒数的平方根与原子序数成正比。这就是()定律。此定律成为X射线光谱()分析的基础。A、莫塞莱B、布拉格C、定性D、定量

在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

X射线荧光光谱仪分析原理是什么?

X射线荧光的()与元素的种类有关,据此可以进行定性分析,X射线荧光的()与元素的含量有关,据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度

由X射线管发出的一次X射线激发样品,使样品所含元素辐射出二次X射线,即X射线()。A、光子B、荧光C、光谱D、线束

在X射线光谱分析中,光管产生的X射线波长应()样品中待测元素的X射线波长。A、小于B、等于C、大于

X射线荧光光谱法是对元素的()进行分析。A、特征光谱B、带状光谱C、连续光谱

X射线荧光光谱仪上,采用W靶X射线管适于分析重元素:Cr靶X射线管适于分析轻元素,而()靶X射线管则在一定程度上,却对轻、重元素的分析都能兼顾。

X射线荧光仪和光电直读光谱仪分别采用()和()来接受被测元素特征光谱信号的。

简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?

X射线荧光光谱内标法,即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中,以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比,从校准曲线求得分析元素含量。

波长色散X射线荧光光谱仪的分光晶体是利用晶体的()现象使不同波长的X射线分开,以便从中选择被测元素的()谱线进行测定。A、反射B、衍射C、折射D、特征

为什么说元素的X-射线荧光光谱具有很强的特征性?

判断题X荧光的特征能量和强度是X射线荧光光谱定性和定量分析的基础。A对B错

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