简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。
X射线荧光分析法所应用的元素固有的荧光X射线波长为（）A、全谱段波长B、0.001～10nmC、0.01～120nmD、0.1～800nm
X射线荧光中所谓的基体，是指整个分析试样的元素，但不包括（）。
不影响X荧光分析的主要因素有（）。A、粒度效应B、矿物效应C、基体效应D、光电效应
X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。
X射线荧光分析时基体效应的基体，是指分析时试样中除（）元素本身外其它所有的元素。A、气体B、惰性C、分析D、氧化性
X射线荧光光谱分析中，当基体效应是增强效应时，将使所得被测元素的结果偏低。
X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类，即（）。A、经验系数法B、计算法C、基本参数法D、理论影响系数法
X射线荧光光谱分析中，连续光谱激发样品时，连续光谱中的散射线是构成背景的主要来源，会影响分析元素的检测限，尤其对痕量元素。
X射线荧光光谱可对分析样品中的元素进行（）A、定性分析B、定量分析C、都不是
在X射线荧光光谱分析中，样品中除分析元素以外的全部元素为基体，基体元素对分析元素的影响叫基体效应。
X射线荧光的（）与元素的种类有关，据此可以进行定性分析，X射线荧光的（）与元素的含量有关，据此可以进行定量分析。A、谱线B、波长C、特征线D、强度
X射线荧光光谱仪上，采用W靶X射线管适于分析重元素：Cr靶X射线管适于分析轻元素，而（）靶X射线管则在一定程度上，却对轻、重元素的分析都能兼顾。
X射线荧光光谱内标法，即把一定量的内标元素加入到标准试料及分析试料中，以标准试料中分析元素与内标元素的X射线荧光强度比与分析元素含量绘制校准曲线。测定分析试料的分析元素与内标元素的X射线荧光强度比，从校准曲线求得分析元素含量。
用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？
问答题简述X射线荧光分析中的基体效应，以及克服或校正基体效应的方法。
判断题在X射线荧光分析中，元素的原子序数越大，产生的X射线荧光波长越小。A对B错
问答题利用X射线荧光光谱技术对元素进行定性和定量分析的理论依据是什么？X射线荧光谱所分析的元素范围一般从铍（B）—铀（U），为什么不能分析轻元素（氢、氦和锂）？
问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应，除了内标法和标准加入法外，还有哪几种方法？
问答题什么叫分析测试的基体效应？对测定结果有何影响？
问答题用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应，内标物满足什么条件？