X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类,即()。A、经验系数法B、计算法C、基本参数法D、理论影响系数法

X射线荧光光谱分析的基体效应的数学校正一般分为三类,即()。

  • A、经验系数法
  • B、计算法
  • C、基本参数法
  • D、理论影响系数法

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影响X射线荧光光谱分析的主要因素有:()、()和()三大方面。

简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。

X射线荧光光谱分析康普顿散射线内标法不能校正基体的吸收效应,只能校正增强效应。

简述X射线荧光光谱分析中金属样品的的取制样要求?

X射线荧光分析时基体效应的基体与光电直读光谱分析用的铁基样品、镍基样品、铬基样品的铁基、镍基、铬基含意是一样的。

在X射线荧光光谱法中的基体和基体效应

以下说法错误的是()A、X射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人B、X射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋C、X射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行D、X射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

按照电磁辐射的本质来分,光谱分析法可分为原子光谱分析法和分子光谱分析法,属于原子光谱分析法的有()A、化学发光B、原子荧光C、核磁共振D、X射线荧光

X射线荧光光谱分析中,当基体效应是增强效应时,将使所得被测元素的结果偏低。

简述X射线荧光光谱分析的优点。

X射线荧光光谱分析标准化的方法有()校正法。A、一点B、工作曲线C、两点D、标准加入

X射线荧光光谱分析中,X射线光强度和管电压V的平方、管电流I以及靶元素原子序数Z成正比。

基体效应包括吸收和增强两种效应。消除基体效应的方法有()法等。A、稀释B、薄膜样品C、吸收校正D、数学处理

X射线荧光光谱分析散射背景内标法是用由连续谱线的散射线构成的本底(背景)为内标的校正方法。

在X射线荧光光谱分析中,样品中除分析元素以外的全部元素为基体,基体元素对分析元素的影响叫基体效应。

影响X荧光分析的基体效应可分为元素间的()、()两类。

简述X射线荧光光谱定量分析的基体效应?如何消除?

进行X射线荧光光谱分析的样品,可以是固态,也可以是水溶液。

X射线荧光光谱仪的X射线分为两种即原级X射线和次级X射线,一般说来,原级X射线的波长比次级的长。

用内标法进行X射线荧光定量分析可消除基体效应,内标物满足什么条件?

问答题简述X射线荧光分析中的基体效应,以及克服或校正基体效应的方法。

单选题油料光谱分析法按应用可分为()光谱分析。 Ⅰ.原子吸收; Ⅱ.发射; Ⅲ.X射线荧光。AⅠ+ⅡBⅠ+ⅢCⅡ+ⅢDⅠ+Ⅱ+Ⅲ

问答题为了消除X射线荧光定量分析时的基体效应,除了内标法和标准加入法外,还有哪几种方法?

单选题用于动力装置油料分析的光谱仪按其对光谱分析方法的应用可分为()。 Ⅰ.X射线荧光光谱分析; Ⅱ.原子吸收光谱分析; Ⅲ.发射光谱分析。A仅仅是ⅠBⅡ+ⅢCⅠ+ⅡDⅠ+Ⅱ+Ⅲ

问答题简述X射线荧光光谱分析的基本原理和主要用途。

单选题以下说法错误的是()AX射线荧光光谱分析时,枪头可以对着人BX射线荧光光谱分析时,严禁雨天在室外进行光谱分析工作,避免仪器受雨淋CX射线荧光光谱分析时,严禁在易燃易爆物品附近进行DX射线荧光光谱分析在高空作业时,人和机器要有防坠装置

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