通常所称的游动缺陷回波是指用()探测到的。 A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、均不能
在超声波探伤中，双晶探头用于探测工件中什么部位的缺陷？
与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是（）A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法
饼类锻件最主要探测方向是（）A、 直探头端面检测B、 直探头侧面检测C、 斜探头端面检测D、 斜探头侧面检测
提高近表面缺陷的探测能力的方法是（）A、用TR探头B、使用窄脉冲宽频带探头C、提高探头频率，减小晶片尺寸D、以上都是
频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头
表面波探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
用入射角为36.5°的有机玻璃楔块制作斜探头，用一次声探测钢制工件时，测得某缺陷的声程为141mm，求探头距缺陷的水平距离与缺陷距离探测面的深度？（CL＝2730m/s；CS＝3250m/s）
双晶探头用于探测工件（）缺陷。A、近表面B、表面C、内部D、平面形
频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
以下哪种探测方法不适宜T型焊缝（）。A、直探头在翼板上扫查探测B、斜探头在翼板外侧或内侧扫查探测C、直探头在腹板上扫查探测D、斜探头在腹板上扫查探测
通常所称的游动缺陷回波是指用（）探测到的。A、直探头B、斜探头C、联合双探头D、联合单探头
填空题频率（）的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时，应选择（）频率的探头。
填空题频率高的探头容易产生（）的脉冲，因此在探测薄工件和近表面缺陷时应选择（）频率的探头。
单选题接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头
单选题用直探头在工件端面探测离侧壁极近的小缺陷时，探头最不利的探测位置是（）A尽可能靠近侧壁；B离侧壁10mm；C离侧壁一个探头直径的距离处；D离侧壁二个探头直径的距离处。
填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
单选题饼类锻件最主要探测方向是：（）A直探头端面探伤B直探头侧面探伤C斜探头端面探伤D斜探头侧面探伤
单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷，最有效的探测方法是：（）A单斜探头法B单直探头法C双斜探头前后串列法D分割式双直探头法
单选题双晶探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形
单选题分割式探头主要用来（）。A探测离探伤面远的缺陷B探测离探伤面近的缺陷C探测与探伤面平行的缺陷
单选题表面波探头用于探测工件（）缺陷。A近表面B表面C内部D平面形