单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头

单选题
接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()
A

联合双探头

B

普通直探头

C

表面波探头

D

横波斜探头


参考解析

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相关考题:

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷

方形锻件垂直法探伤时,荧光屏上出现一随探头移动而游动的缺陷回波,其波幅较低但底波降低很大,该缺陷的取向可能是()A、平行且靠近探测面B、与声束方向平行C、与探测面成较大角度D、平行且靠近底面

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射

轴类锻件,一般来说用纵波直探头作轴向探测,检测效果最佳。

单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。A、近场干扰B、衰减C、盲区D、折射

用串联式探头进行操作扫查,主要用来检测()的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面

单晶片探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为盲区。

用单斜探头检查厚焊缝时,与探测面垂直且大而平的缺陷时,最容易()。A、漏伤B、检出伤损C、有利于定量D、B和C

接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面()的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、呈90°

用单斜探头检查厚焊缝时容易漏掉与探测面垂直的大而平的缺陷。

用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是()。A、最大表面与轧制面平行的分层缺陷B、最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C、最大表面与轧制面倾斜的缺陷D、与探测面倾斜20°的缺陷

直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。

接近探侧面的且与其平行的缺陷,用下列探头哪一个检出效果最佳()。A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

用直探头对轴类锻件探伤时可分为径向和轴向探测。前者有利于发现轴类锻件常见的()缺陷,后者有利于检出()缺陷。

斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。A、平行B、垂直C、倾斜D、一致

单选题接近探侧面的且与其平行的缺陷,用下列探头哪一个检出效果最佳()。A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头

单选题用单斜探头检查厚焊缝时,与探测面垂直且大而平的缺陷时,最容易()。A漏伤B检出伤损C有利于定量DB和C

判断题直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。A对B错

单选题单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。A近场干扰B衰减C盲区D折射

单选题用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是()。A最大表面与轧制面平行的分层缺陷B最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C最大表面与轧制面倾斜的缺陷D与探测面倾斜20°的缺陷

单选题单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

单选题直探头只能发射和接收纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于发现与探测面()的缺陷。A平行B垂直C倾斜D呈90°

单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷

单选题分割式探头主要用来()。A探测离探伤面远的缺陷B探测离探伤面近的缺陷C探测与探伤面平行的缺陷

单选题斜探头主要用于探测与探测面()或成一定角度的缺陷。A平行B垂直C倾斜D一致