JB/T4730标准规定出现什么情况时，应进行磁粉检验复验？
JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A、相关显示B、非相关显示C、伪显示D、以上都是
JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。
JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
JB/T4730标准规定，但使用磁轭最大间距时，交叉磁轭至少应有（）的提升力。
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A对B错
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
填空题JB/T4730标准规定，但使用磁轭最大间距时，交叉磁轭至少应有（）的提升力。
问答题JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
填空题按JB4248-86标准，凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可（）、（）
单选题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A相关显示B非相关显示C伪显示D以上都是
填空题JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。
填空题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
单选题JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。A1mmB0.1mmC0.5mmD0.8mm
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A对B错
问答题JB/T4730标准规定出现什么情况时，应进行磁粉检验复验？