判断题JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。A对B错

判断题
JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。
A

B


参考解析

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相关考题:

当两个缺陷显示迹痕长度分别为2mm,该两缺陷在一条线上且间距为1.5mm,按ZBJ04005-87标准,该缺陷应评为()级A、1B、2C、3D、4

JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。

按JB4248-86标准,凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可()、()

JB/T4730.4-2005标准规定:当辩认细小缺陷磁痕时应用2~10倍放大镜进行观察。

长度与宽度之比不大于()的磁痕,按圆形磁痕处理。A、2B、3C、4D、5

JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

按ZBJ04005-87标准,当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时,则可看作()缺陷显示迹痕A、单独的B、连续的C、以两缺陷显示迹痕长度之和计算D、以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算

按JB/T4730.5-2005标准,两条或两条以上缺陷线性显示在同一条直线上且间距不大于2mm时,按一条缺陷显示处理,其长度为两条缺陷显示之和加间距。

JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。

JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。

JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。

按ZBJ04005-87标准,当有2个或2个以上缺陷显示迹痕大致在一条线上,同时间距又小于()mm时,则应看作是一个连续的线状显示迹痕(包括迹痕长度和间距)A、2B、4C、6D、8

JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。

JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。

在检查过程中发现缺陷磁痕时,应用标记笔在轮轴、轮对、车轴上画出缺陷磁痕位置,并详细记录缺陷磁痕的()、方向和尺寸大小。A、位置B、性质C、长度D、深度

观察磁痕过程中发现缺陷磁痕时,应标出缺陷磁痕位置,并详细记录缺陷磁痕的()。A、位置B、方向C、尺寸大小D、以上均不对

单选题按ZBJ04005-87标准,当缺陷显示迹痕中最短的迹痕长度小于2mm而间距大于显示迹痕时,则可看作()缺陷显示迹痕A单独的B连续的C以两缺陷显示迹痕长度之和计算D以两缺陷显示迹痕长度与间距之和计算

判断题按JB/T4730.5-2005标准,两条或两条以上缺陷线性显示在同一条直线上且间距不大于2mm时,按一条缺陷显示处理,其长度为两条缺陷显示之和加间距。A对B错

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:当辩认细小缺陷磁痕时应用2~10倍放大镜进行观察。A对B错

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A对B错

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。A对B错

单选题长度与宽度之比不大于()的磁痕,按圆形磁痕处理。A2B3C4D5

问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

单选题JB/T4730标准规定,凡长度小于()的缺陷磁痕不计。A1mmB0.1mmC0.5mmD0.8mm

判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。A对B错

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A对B错

单选题当两个缺陷显示迹痕长度分别为2mm,该两缺陷在一条线上且间距为1.5mm,按ZBJ04005-87标准,该缺陷应评为()级A1B2C3D4