JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测的工件表面不得有油脂、铁锈、氧化皮或其它粘附磁粉的物质。
根据JB/T4730.4-2005标准规定，对镍钢复合板复层接头进行表面无损检测时，应优先采用磁粉检测。
磁粉检测时，某磁痕长度为4mm，宽度为1mm，则该磁痕属于（）磁痕。A、条状B、圆形C、不计D、横向
JB/T4730.4-2005标准规定：承压设备焊缝及其坡口表面磁粉检测时不允许横向缺陷存在。
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。
JB/T4730.4-2005标准规定：荧光磁粉检测时，所用黑光灯在工件表面的辐照度应大于等于（）。A、1000LxB、500LxC、1000μW/cm2D、3000μW/cm2
JB/T4730.4-2005标准规定：当被检工件表面均匀涂层厚度不超过0.5mm，且不影响检测结果时，经合同各方同意，可以带涂层进行磁粉检测。
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
JB/T4730.4-2005标准规定：非荧光磁粉检测时，被检工件表面的可见光照度应大于等于1000Lx。
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测用的磁探机应定期进行校验，并有记录可查。
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A对B错
单选题磁粉检测时，某磁痕长度为4mm，宽度为1mm，则该磁痕属于（）磁痕。A条状B圆形C不计D横向
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时一般应选用A1-60/100型标准试片。A对B错
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：承压设备焊缝及其坡口表面磁粉检测时不允许横向缺陷存在。A对B错
单选题JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。A1mmB0.1mmC0.5mmD0.8mm
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：非荧光磁粉检测时，被检工件表面的可见光照度应大于等于1000Lx。A对B错