JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A、相关显示B、非相关显示C、伪显示D、以上都是
JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。
JB/T4730.4-2005标准规定：两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时，按一条磁痕处理，其长度为两条磁痕之和加间距。
JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。
JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
8JB/T4730—2005标准对磁轭提升力指标有何规定？影响交叉磁轭磁粉探伤仪提升力的主要因素有哪些？
JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。
JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。
JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。
JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。
JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：当辩认细小缺陷磁痕时应用2～10倍放大镜进行观察。A对B错
问答题8JB/T4730—2005标准对磁轭提升力指标有何规定？影响交叉磁轭磁粉探伤仪提升力的主要因素有哪些？
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：磁粉检测时，长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：长宽比大于3的缺陷磁痕，按线性缺陷处理，长宽比小于3的缺陷磁痕，按圆形缺陷处理。A对B错
填空题JB/T4730标准规定，缺陷磁痕的显示记录可采用（）、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。
问答题JB/T4730标准如何磁粉检测人员的视力要求？
问答题JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求？
问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的？
单选题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为（）A相关显示B非相关显示C伪显示D以上都是
填空题JB/T4730标准规定，关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时，应进行（）评级。
填空题JB/T4730标准规定，磁痕显示分为相关显示、非相关显示和（）
单选题JB/T4730标准规定，凡长度小于（）的缺陷磁痕不计。A1mmB0.1mmC0.5mmD0.8mm
判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的，没有涉及缺陷的定性。A对B错
判断题JB/T4730.4-2005标准规定：缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A对B错