判断题JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。A对B错

判断题
JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。
A

B


参考解析

解析: 暂无解析

相关考题:

GB£¯T3323£­2005标准中规定,焊缝中长宽比小于或等于3的缺陷是() A、圆形缺陷B、条状缺陷C、未熔合或未焊透D、裂纹

射线检测定级时,长宽比小于等于3的缺陷定义为圆形缺陷。此题为判断题(对,错)。

JB/T4730-2005标准将长宽比小于或等于3的缺陷定义为 圆形缺陷。此题为判断题(对,错)。

JB/T4730-2005标准规定:长度与宽度之比小于3的缺陷显示,按圆形缺陷处理。

JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。

按JB4248-86标准,凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可()、()

JB/T4730.4-2005标准规定:当辩认细小缺陷磁痕时应用2~10倍放大镜进行观察。

长宽比小于3的缺陷定义为圆形缺陷,包括气孔,夹渣和夹钨。

JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。

按ZBJ04005-87标准,对线状和圆状缺陷显示迹痕的等级分类中,都是按缺陷显示迹痕的()数值大小划分的A、长度B、宽度C、长宽比D、以上各点

JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。

长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕,长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。

JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。

JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。

按JB4730-2005《承压设备无损检测》规定,下列有关渗透显示分类的叙述,正确的是:()A、非相关显示和虚假显示不必记录和评定B、小于0.5㎜的显示不计;除确认由外界因素或操作不当造成的显示外,其它显示均作缺陷处理C、缺陷长轴方向与工件(轴类或管类)轴线或母线的夹角≥30°时,按横向缺陷处理,其它按纵向缺陷处理D、长宽比≥3的缺陷显示,按线性缺陷处理;长宽比<3的缺陷显示,按圆形缺陷处理

GB3323-87标准,长宽比小于3的缺陷为园形缺陷,包括()、()、()。

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:当辩认细小缺陷磁痕时应用2~10倍放大镜进行观察。A对B错

单选题按ZBJ04005-87标准,对线状和圆状缺陷显示迹痕的等级分类中,都是按缺陷显示迹痕的()数值大小划分的A长度B宽度C长宽比D以上各点

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:两条或两条以上缺陷磁痕在同一直线上且间距不大于2mm时,按一条磁痕处理,其长度为两条磁痕之和加间距。A对B错

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:磁粉检测时,长度小于等于0.5mm的缺陷磁痕不计。A对B错

判断题JB/T4730-2005标准规定:长度与宽度之比小于3的缺陷显示,按圆形缺陷处理。A对B错

问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

判断题JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。A对B错

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。A对B错

填空题按JB4248-86标准,凡缺陷磁痕尺寸小于1.5mm和发纹可()、()

判断题长宽比大于等于3的缺陷显示为线性缺陷迹痕,长宽比不大于3的缺陷显示为圆形缺陷迹痕。A对B错