JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。


相关考题:

JB/T4730标准规定,磁痕显示分为()A、相关显示B、非相关显示C、伪显示D、以上都是

JB/T4730标准规定,关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时,应进行()评级。

JB/T4730标准规定,磁悬液的施加不可采用()A、喷洒法B、浇洒法C、浸泡法D、刷涂法

对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录,同时应用草图 标示。

JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷的显示记录可采用()、()、()等方式记录,同时用草图标示。

JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求?

JB/T4730.4-2005标准规定:长宽比大于3的缺陷磁痕,按线性缺陷处理,长宽比小于3的缺陷磁痕,按圆形缺陷处理。

JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。

JB/T4730.4-2005标准对磁痕显示的分类是按磁痕的产生原因、形状和方向进行的,没有涉及缺陷的定性。

记录缺陷磁痕的常用方法有()、()、()和()等

按照NB/T47013.5-2015的规定,缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录,同时用草图标示()A、照相B、录像C、可剥性塑料薄膜D、以上全是

JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕的观察应在磁痕形成后立即进行。

JB/T4730标准规定,磁痕显示分为相关显示、非相关显示和()

JB/T4730-2005规定:着色渗透检测时,缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图进行标示。

填空题JB/T4730标准规定,关于磁粉检测在圆形缺陷评定区内同时存在多种缺陷时,应进行()评级。

判断题JB/T4730.4-2005标准规定:缺陷磁痕显示的记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图标示。A对B错

填空题JB/T4730标准规定,缺陷磁痕的显示记录可采用()、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录。

填空题按照JB/T4730.5-2005的规定,缺陷的显示记录可采用()、()、()等方式记录,同时用草图标示。

判断题JB/T4730-2005规定:着色渗透检测时,缺陷的显示记录可采用照相、录像和可剥性塑料薄膜等方式记录,同时应用草图进行标示。A对B错

问答题JB/T4730.4-2005标准对缺陷磁痕显示记录是如何要求的?

单选题JB/T4730标准规定,磁痕显示分为()A相关显示B非相关显示C伪显示D以上都是

单选题JB/T4730标准规定,凡长度小于()的缺陷磁痕不计。A1mmB0.1mmC0.5mmD0.8mm

判断题对于缺陷的记录可采用照相、录相和可剥性塑料薄膜等方法记录,同时应用草图 标示。A对B错

单选题按照NB/T47013.5-2015的规定,缺陷的显示记录可采用以下那些方式记录,同时用草图标示()A照相B录像C可剥性塑料薄膜D以上全是

问答题JB/T4730—2005标准关于缺陷磁痕的观察有哪些要求?

填空题JB/T4730标准规定,磁痕显示分为相关显示、非相关显示和()