焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷
近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A、后乳化渗透法B、着色渗透法C、可水洗型荧光渗透法D、以上方法均不能探测近表面的缺陷
焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷
超声波探伤只能检查出部件表面的缺陷，探测不出部件内部深处的缺陷。
按照“右手定则”，工件表面的纵向缺陷，可以通入平行于缺陷方向的电流检测出来。这是因为（）A、电流方向与缺陷一致；B、磁场与缺陷垂直；C、怎么通电都一样；D、磁场平行于缺陷
近探测面的缺陷不是总能检出来，因为（）A、近场效应B、衰减C、检测系统的回复时间D、折射
焊缝表面的纵向裂纹，可以用平行于缺陷方向的电流将其检测出来。这是因为（）。A、电流方向与缺陷方向一致B、磁场方向与缺陷垂直C、磁场平行于缺陷方向D、形成的磁感应强度大
用试件底面的方法校准探测灵敏度时，底面所在部位应平整（）。A、无缺陷B、有规则的缺陷C、有小缺陷D、以上均不是
磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷
磁粉探伤方法只能检测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。（）
探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
横波斜角检测，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，起原因是（）A、远场效应B、受分辨率影响C、盲区D、受反射波影响
垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的（）A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度D、A和B
垂直法探伤所定的缺陷深度，也就是缺陷至探测面的垂直距离.
垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷（）A、声程B、至探测面的垂直距离C、深入探测面的深度
单选题焊缝表面的纵向裂纹，可以用平行于缺陷方向的电流将其检测出来。这是因为（）。A电流方向与缺陷方向一致B磁场方向与缺陷垂直C磁场平行于缺陷方向D形成的磁感应强度大
多选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷（）A声程B至探测面的垂直距离C深入探测面的深度
单选题按照“右手定则”，工件表面的纵向缺陷，可以通入平行于缺陷方向的电流检测出来。这是因为（）A电流方向与缺陷一致B磁场与缺陷垂直C怎么通电都一样D磁场平行于缺陷
单选题垂直法探伤所定的缺陷深度也就是缺陷的（）A声程B至探测面的垂直距离C深入探测面的深度DA和B
填空题探头晶片尺寸（），近场区长度增加，对近表面的缺陷探测不利。
单选题磁粉探伤只可以探测船机零件表面和近表面的缺陷，主要是因为（）。A磁力线无法到达零件内部B零件内部缺陷所形成的磁场无法溢出零件表面C零件内部无法形成磁场D集肤效应
单选题斜角探伤时，焊缝中的近表面缺陷不容易探测出来，其原因是（）A近场效应B受分辨力影响C盲区D受反射波影响
判断题磁粉探伤方法只能探测开口于试件表面的缺陷，而不能探测近表面缺陷。A对B错
单选题焊缝用串列探头进行扫查，主要用于检测（）A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷
单选题分割式探头主要用来（）。A探测离探伤面远的缺陷B探测离探伤面近的缺陷C探测与探伤面平行的缺陷
单选题近表面的缺陷用哪种方法探测最好？（）A后乳化渗透法B着色渗透法C可水洗型荧光渗透法D以上方法均不能探测近表面的缺陷