单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。A、近场干扰B、衰减C、盲区D、折射

单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。

  • A、近场干扰
  • B、衰减
  • C、盲区
  • D、折射

相关考题:

按JB/T4730-2005《承压设备无损检测》规定:钢板超声波检测对缺陷边界范围或指示长度测量方法,以下叙述正确的是:() A.用双晶直探头测量时,探头移动方向应与探头发射并接收声波的平面平行B.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时一探头中心点为缺陷边界点C.用双晶直探头或单晶直探头测量缺陷时,以探头离开缺陷边缘为缺陷边界点D.底面第一次底波B1

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A.平行于探测面的缺陷B.与探测面倾斜的缺陷C.垂直于探测面的缺陷D.不能用斜探头检测的缺陷

焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

下面关于各种探头作用的说法,哪一条是错误的?()A、纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B、横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C、表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D、兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷

单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、折射

与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是()A、单斜探头法B、单直探头法C、双斜探头前后串列法D、分割式双直探头法

在直接接触法直探头检测时,底波消失的原因是()。A、耦合不良B、存在与声束不垂直的平面缺陷C、存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D、以上都可能造成底波消失

纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。

用串联式探头进行操作扫查,主要用来检测()的缺陷。A、平行于探测面B、与探测面倾斜C、垂直于探测面

单晶片探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为盲区。

单晶片直探头接触法探伤中,与接触面十分接近的缺陷往往不能有效地检出这是因为()。A、近场干扰B、材质衰减C、盲区D、选择范围

接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面.主要用于探测与探测面()的缺陷。

用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是()。A、最大表面与轧制面平行的分层缺陷B、最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C、最大表面与轧制面倾斜的缺陷D、与探测面倾斜20°的缺陷

直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。

纵波直探头主要用于检测与检测面平行或近似垂直的缺陷。

填空题直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面.主要用于探测与探测面()的缺陷。

单选题下述无损检测中,能够检测锻件折叠缺陷的方法是()AUT直探头直接接触法BUT斜直探头直接接触法CMT线圈磁化法DMT磁轭磁化法

判断题直探头只能发射和接受纵波,波束轴线垂直于探测面,主要用于探测与探测面平行的缺陷。A对B错

单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头

单选题单晶直探头接触法检测中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为()。A近场干扰B衰减C盲区D折射

单选题单晶片直探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为:()A近场干扰B材质衰减C盲区D折射

单选题与探测面垂直的内部平滑缺陷,最有效的探测方法是:()A单斜探头法B单直探头法C双斜探头前后串列法D分割式双直探头法

单选题焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A平行于探测面的缺陷B与探测面倾斜的缺陷C垂直于探测面的缺陷D不能用斜探头检测的缺陷

判断题纵波直探头法主要用于检测与检测面平行的缺陷。A对B错

单选题下面关于各种探头作用的说法,哪一条是错误的?()A纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷

单选题在直接接触法直探头检测时,底波消失的原因是()。A耦合不良B存在与声束不垂直的平面缺陷C存在与始脉冲不能分开的近表面缺陷D以上都可能造成底波消失