单选题接近探侧面的且与其平行的缺陷,用下列探头哪一个检出效果最佳()。A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头

单选题
接近探侧面的且与其平行的缺陷,用下列探头哪一个检出效果最佳()。
A

联合双探头

B

普通直探头

C

表面波探头

D

横波斜探头


参考解析

解析: 暂无解析

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关于眼球赤道部扫查的描述,正确的是 ( )A、眼球尽量向上看,探头与眼球赤道平行扫查,可检出晶体、角膜、玻璃体腔、球壁、球后脂肪B、眼球尽量向下看,探头与眼球赤道平行扫查,可检出玻璃体腔、球壁、球后脂肪C、眼球尽量向前看,探头与眼球赤道平行扫查,仅可检出玻璃体腔D、眼球尽量向下看,探头与眼球赤道平行扫查,仅可检出玻璃体腔E、以上各项均是

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用直探头直接接触于钢板,对厚度方向进行超声波垂直法探伤,它最易检出的是() A、最大表面与轧制面平行的分层缺陷B、最大表面与轧制面垂直的横向缺陷C、最大表面与轧制面倾斜的缺陷D、上述都不对

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焊缝用串列探头进行扫查,主要用于检测()A、平行于探测面的缺陷B、与探测面倾斜的缺陷C、垂直于探测面的缺陷D、不能用斜探头检测的缺陷

盲区是超声波探伤系统重要的性能指标之一,因为它关系到()。A、检出平行于超声波束的缺陷B、检出位于锻件中心部位的小缺陷C、检出表面缺陷D、检出近表面的缺陷

下列关于磁化电流方向与缺陷方向关系叙述正确的是()。A、直接通电磁化时,与电流方向垂直的缺陷最容易检出B、直接通电磁化时,与电流方向平行的缺陷最容易检出C、直接通电磁化时,产生周向磁场任何方向的缺陷均可检出D、直接通电磁化时,近表面的缺陷容易检出

超声检测方法中的单探头法和双探头法对于工件中缺陷的检出效果是一样的,两者的区别主要在探头的数量。

单晶片探头接触法探伤中,与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出,这是因为盲区。

用单斜探头检查厚焊缝时,与探测面垂直且大而平的缺陷时,最容易()。A、漏伤B、检出伤损C、有利于定量D、B和C

接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

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接近探侧面的且与其平行的缺陷,用下列探头哪一个检出效果最佳()。A、联合双探头B、普通直探头C、表面波探头D、横波斜探头

垂直法超声波探伤,检出效果最佳的缺陷是与()的缺陷。

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用GTS-60试块测37°探头缺陷检出能力的基准反射波是什么?

单选题用单斜探头检查厚焊缝时,与探测面垂直且大而平的缺陷时,最容易()。A漏伤B检出伤损C有利于定量DB和C

单选题下列关于磁化电流方向与缺陷方向关系叙述正确的是()。A直接通电磁化时,与电流方向垂直的缺陷最容易检出B直接通电磁化时,与电流方向平行的缺陷最容易检出C直接通电磁化时,产生周向磁场任何方向的缺陷均可检出D直接通电磁化时,近表面的缺陷容易检出

单选题接近探测面并与其平行的缺陷,用下列哪种探头检出效果最佳:()A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头

判断题超声检测方法中的单探头法和双探头法对于工件中缺陷的检出效果是一样的,两者的区别主要在探头的数量。A对B错

问答题用GTS-60试块测37°探头缺陷检出能力的基准反射波是什么?

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