单选题单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。A近场干扰B衰减C盲区D折射
单选题
单晶直探头接触法检测中，与探测面十分接近的缺陷往往不能有效地检出，这是因为（）。
A
近场干扰
B
衰减
C
盲区
D
折射
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解析：
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下面关于各种探头作用的说法，哪一条是错误的？（）A、纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B、横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C、表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D、兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷
单选题超声波检测中避免在近场区定量的原因是（）。A 近场区的回波声压很高，定量不准确B 在近场区检测时，由于探头存在盲区，易形成漏检C 在近场区检测时，处于声压极小值处较大缺陷回波可能较低；处于声压极大值处的较小缺陷可能回波较高，容易出现误判D 以上都对
单选题下面关于各种探头作用的说法，哪一条是错误的？（）A纵波直探头用于检测与检测面垂直的缺陷B横波斜探头用于检测与检测面倾斜的缺陷C表面波探头用于检测表面和近表面缺陷D兰姆波探头用于检测薄板中的缺陷
单选题接近探测面并与其平行的缺陷，用下列哪种探头检出效果最佳：（）A联合双探头B普通直探头C表面波探头D横波斜探头