填空题测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

填空题
测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

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相关考题:

测量设备通常包括( )。A.测量仪器B.测量标准C.测量资料D.测量人员

测量系统是组装起来用以进行特定测量的全套测量仪器和其它设备,对于固定安装着的测量系统又被称为()。

对同一个测量对象重复进行测量,不同测量者进行测量时测量结果的差异一般被称为()A、测量系统的稳定性B、测量系统的重复性C、测量系统的再现性D、测量系统的线性

对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。

测量分析可将各种来源的变差量化,如来自()。测量分析也可将来自测量系统的变差作为总过程变差、或总容许变差的一部分予以描述。A、测量人员的变差B、测量结果的变差C、测量仪器自身的变差D、测量过程的变差

在频率测量时,通常测量设备的精度应优于发射机频率容限()。频率标准和测量方法产生的各类误差()之和构成整个系统的最大误差。

测量系统变差的类型有哪些?

测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响,主要强调()和()的变差对测量值的影响。

测量系统的()通常被称为测量设备的变差。

以下哪种原因可能导致测量结果的变差() 。A、零件的变差B、测量人内部变差C、测量仪器的变差D、测量环境导致的变差

在测量系统分析中,评价一个人使用一件测量设备,对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差,称为()。A、重复性B、偏倚C、稳定性D、线性E、再现性

再现性:是指不同的操作人员采用不同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差,又叫系统间的误差。

测量系统的变差只能是由普通原因而不是特殊原因造成。

以下公式错误的是()。A、 测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B、 TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C、 GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D、 ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

测量系统的()通常被称为评价人的变差。

填空题测量系统分析是用于分析测量系统对数量化测量值的影响,主要强调()和()的变差对测量值的影响。

填空题测量系统是组装起来用以进行特定测量的全套测量仪器和其它设备,对于固定安装着的测量系统又被称为()。

多选题测量设备通常包括(  )。A测量仪器B参考物质C测量标准D辅助设备

单选题在测量系统分析中,评价一个人使用一件测量设备,对同一零件的某一个特性进行多次测量下的变差,称为()。A重复性B偏倚C稳定性D线性E再现性

单选题对再现性说法正确的是:()。A由不同操作人员,采用相同的测量仪器,测量不同零件的同一特性时测量平均值的变差B由不同操作人员,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差C由不同操作人员,采用不同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差D由相同操作人员,采用相同的测量仪器,测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差

多选题以下哪种原因可能导致测量结果的变差()。A零件的变差B测量人内部变差C测量仪器的变差D测量环境导致的变差

单选题对同一个测量对象重复进行测量,不同测量者进行测量时测量结果的差异一般被称为()A测量系统的稳定性B测量系统的重复性C测量系统的再现性D测量系统的线性

多选题对于测量系统重复性的描述正确的是()A是指同一个操作者采用一种量具,多次重复测量同一零件的同一特征所获得的测量值的变差B是指由于不同操作者,采用相同量具,测量同一个零件的同一特征所得测量结果的变差C是指同一个操作者采用一种量具,多次用不同方法重复测量同一零件的同一特征时所获得的测量值的变差D测量系统重复性差往往和测量仪器本身精度有关

单选题以下公式错误的是()。A 测量系统的偏倚=测量值-真值(或约定真值)B TV(总变差)2=EV(测量设备的变差)2+PV(零件的变差)2C GRR(测量系统变差)2=EV(测量设备的变差)2+AV(评价人的变差)2D ndc(区别分类数)=1.41*(PV/GRR)

填空题测量系统的()通常被称为评价人的变差。

判断题对于控制测量系统的变差应该显示有效的分辩率并且与制造过程变差相比要小。A对B错

问答题测量系统变差的类型有哪些?